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龙图腾网获悉广州市鸿利显示电子有限公司申请的专利基于三维光偏折效应的Mini LED芯片检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117664533B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311722174.4，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权基于三维光偏折效应的Mini LED芯片检测方法是由满乾才;马飞飞;桑建;刘传标设计研发完成，并于2023-12-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于三维光偏折效应的Mini LED芯片检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于三维光偏折效应的MiniLED芯片检测方法，S0.预设激光经过MiniLED芯片的正常位置时的折射角度；S1.依据灯板上MiniLED芯片的位置设置折射片组一和折射片组二在导光板上的位置；S2.通过导光板两端的对位卡槽将导光板与灯板进行对位，使灯板上的MiniLED芯片卡入折射片组一与折射片组二的间距内；S3.将导光板和灯板放置于暗室中，然后启动激光发射器发出激光，使激光依次经过激光通道后，最后通过激光接收器接受；S4.分析激光接收器接受得到的激光的折射角度，然后判断出灯板上MiniLED芯片的位置是否发生偏移，能够更快地检测MiniLED芯片的位置，方法可靠。

本发明授权基于三维光偏折效应的Mini LED芯片检测方法在权利要求书中公布了：1.基于三维光偏折效应的MiniLED芯片检测方法，其特征在于： 通过激光检测装置实现检测，激光检测装置包括激光发射器、导光板以及激光接收器，激光接收器与处理器相连；激光发射器设置在导光板的一侧，所述激光接收器设置在导光板的另一侧，所述导光板包括从上到下依次设置上遮光层、上导光层、中遮光层、下导光层以及下遮光层，所述上导光层上设有两个以上且间隔设置的折射片组一，下导光层上设置有两个以上且间隔设置的折射片组二； 包括以下步骤： S0.预设激光经过MiniLED芯片的正常位置时的折射角度； S1.依据灯板上MiniLED芯片的位置设置折射片组一和折射片组二在导光板上的位置，使折射片组一与折射片组二沿着导光板的长度方向错位设置，导光板上设置有两个以上激光通道，每个激光通道上分别设置有一个折射片组一和一个折射片组二，激光通道的数量与MiniLED芯片的数量相同，折射片组一与折射片组二之间的间距与灯板上的MiniLED芯片相匹配； S2.通过导光板两端的对位卡槽将导光板与灯板进行对位，使灯板上的MiniLED芯片卡入折射片组一与折射片组二的间距内； S3.将导光板和灯板放置于黑暗的测试环境中，然后启动激光发射器发出激光，使激光依次经过激光通道以及MiniLED芯片后，最后通过激光接收器接收从导光板射出的激光； S4.通过处理器分析激光接收器接收得到的激光的折射角度，然后判断出灯板上Mini芯片的位置是否发生偏移。

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