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龙图腾网获悉成都环宇芯科技有限公司申请的专利一种SOC芯片及测试方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116908660B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310811918.3，技术领域涉及：G01R31/317；该发明授权一种SOC芯片及测试方法和系统是由王廷纯;周留洋;陈明波;詹晖设计研发完成，并于2023-07-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种SOC芯片及测试方法和系统在说明书摘要公布了：一种SOC芯片及测试方法和系统，涉及集成电路技术。本发明提供的SOC芯片包括测试电路单元T‑Uint和被测电路单元；所述测试电路单元T‑Uint包括：测试IO引脚、测试IO通路控制器、测试IO属性控制器、测试模式进入控制器、测试操作模式控制器、测试总线模式控制器、测试总线主从控制器；所述测试IO引脚用于测试主机与SOC芯片的通信及控制通路。本发明采用结构化的测试电路单元设计，适用于不同的SOC芯片的测试需求。

本发明授权一种SOC芯片及测试方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种SOC芯片，其特征在于：包括测试电路单元T-Uint和被测电路单元； 所述测试电路单元T-Uint包括：测试IO引脚、测试IO通路控制器、测试IO属性控制器、测试模式进入控制器、测试操作模式控制器、测试总线模式控制器、测试总线主从控制器； 所述测试IO引脚用于测试主机与SOC芯片的通信及控制通路； 所述测试IO通路控制器连接测试IO引脚及被测电路单元，用于控制测试IO引脚的输入输出方向，测试电路单元T-Unit通过测试IO通路控制器控制测试主机、被测电路单元、测试电路单元T-Uint的连通功能、数据及控制状态的交互通路； 所述测试IO属性控制器连接测试IO引脚及被测电路单元，用于配置在不同的测试模式下IO的属性； 所述测试模式进入控制器的组成包括： 测试序列模块：用于将通过测试IO引脚来自测试主机的测试信号转为测试序列，并按bit依次送入测试安全控制模块； 测试安全控制模块：用于将测试安全码分为四级控制序列，每一级均匹配时，进入对应的测试模式； 所述测试操作模式控制器由测试模式进入控制器决定，测试操作模式控制器用于解析来自测试安全控制模块不同的测试操作模式，对被测电路单元进行测试； 所述测试总线模式控制器由测试操作模式控制器决定； 所述测试总线主从控制器连接测试IO引脚、被测电路单元及测试总线模式控制器，其组成包括：总线仲裁模块、测试主总线接口、测试从总线接口； 测试总线主从控制器和测试总线模式控制器共同用于进行总线主从控制的切换，使得测试控制信号和测试数据在测试主机、测试电路单元T-Uint和被测电路单元之间自由交换。

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