武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司闻铭获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司申请的专利一种量化评估数据集构造方法、装置及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116386498B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310190687.9，技术领域涉及：G09G3/20；该发明授权一种量化评估数据集构造方法、装置及设备是由闻铭;冯晓帆;郑增强设计研发完成，并于2023-03-01向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种量化评估数据集构造方法、装置及设备在说明书摘要公布了：本发明涉及一种量化评估数据集构造方法、装置及设备，其包括以下步骤：将实际的屏体Mura图逐像素进行XYZ到RGB的转换，得到RGB模拟图；基于RGB模拟图进行量化评分并获得数据集；将所述数据集应用于mura测试。本发明实施例提供的一种量化评估数据集构造方法、装置及设备，由于将实际的屏体Mura图逐像素进行了XYZ到RGB的转换，得到的RGB模拟图是以XYZ颜色空间为基础进行描述的，此时即使以RGB图为驱动显示Mura模拟图，也能实现数据集里同一张Mura模拟图在不同显示设备上具有相同的显示效果，即设备无关性，因此，不易出现针对同一个Mura模拟图的主观评价值有差异，也不易影响Mura量化算法的开发。
本发明授权一种量化评估数据集构造方法、装置及设备在权利要求书中公布了：1.一种量化评估数据集构造方法，其特征在于，其包括以下步骤： 将实际的屏体Mura图逐像素进行XYZ到RGB的转换，得到RGB模拟图； 基于RGB模拟图进行量化评分并获得数据集；所述数据集包括基于实际的屏体Mura图获得的XYZ模拟图、模拟图对应的评分、用于描述模拟图位置的二值化掩膜图和模拟图信息描述文本文件； 将所述数据集应用于mura测试。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司，其通讯地址为：430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励