武汉理工大学;中材建设有限公司何峰获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉理工大学;中材建设有限公司申请的专利一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115980107B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211586246.2，技术领域涉及：G01N23/207；该发明授权一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法是由何峰;孙悦;谢峻林;刘小青;梅书霞;杨虎;方明;李润国;张超设计研发完成，并于2022-12-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法，包括如下步骤：将偏高岭土样品放入X射线衍射仪中，进行XRD慢扫；将XRD衍射仪测得的数据导入XRD分析软件，寻峰、扣背底，获得寻峰数据；根据所得寻峰数据，计算衍射峰高与相应半峰宽的比值R；对R值为1000以下的所有衍射峰的面积进行求和计算，得∑S衍射峰；最后采用上述相同检测和分析条件，计算不同偏高岭土粉末的∑S衍射峰，根据∑S衍射峰的数值高低，评价不同偏高岭土粉末的活性高低情况。本发明首次提出一种利用XRD快速检测和评价偏高岭土活性的方法，该方法简便、高效，可为偏高岭土活性的高效检测提供一条新思路。
本发明授权一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法在权利要求书中公布了：1.一种利用XRD快速检测偏高岭土活性的方法，其特征在于，包括如下步骤： 1）将偏高岭土样品放入X射线衍射仪中，进行XRD慢扫； 2）将XRD衍射仪测得的数据导入XRD分析软件，寻峰、扣背底，获得寻峰数据； 3）根据所得寻峰数据，计算衍射峰高与相应半峰宽的比值R； 4）对R值为1000以下的所有衍射峰面积进行求和计算，得衍射峰面积∑S衍射峰；寻峰参数中的Points变量设置为9-13； 5）采用上述相同检测和分析条件，计算不同偏高岭土粉末的衍射峰面积∑S衍射峰，根据∑S衍射峰的数值高低，评价不同偏高岭土粉末的活性高低情况； 所述偏高岭土粉末以高岭土为原料，在600-850℃下进行煅烧处理得到。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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