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龙图腾网获悉中国科学院上海光学精密机械研究所申请的专利基于双螺旋点扩散函数的无损定位和成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115728926B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211517246.7，技术领域涉及：G02B21/00；该发明授权基于双螺旋点扩散函数的无损定位和成像方法是由高敬敬;刘红林;韩申生设计研发完成，并于2022-11-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于双螺旋点扩散函数的无损定位和成像方法在说明书摘要公布了：一种基于双螺旋点扩散函数的无损定位和成像方法，包括：利用双螺旋点扩散函数对透过散射介质的目标光束进行相位调制；改变目标轴向离焦量，进行扫描探测，获取若干调制图像；利用信号‑背景比值对双螺旋点扩散函数在散射环境下的定位能力进行评估；根据所述系列调制图像计算目标三维位置；选取系统的焦面DH‑PSF对所述系列调制图像进行反卷积算法光学切片，获得目标以及散射介质的清晰结构，重构目标在散射介质内的三维分布。本发明利用双螺旋点扩散函数在散射环境中的定位能力，并根据其高识别性设计对应算法，重建目标处于散射介质内的三维图像，具有较高的分辨率以及较大的原位甚至活体组织内的穿透厚度。

本发明授权基于双螺旋点扩散函数的无损定位和成像方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双螺旋点扩散函数的无损定位和成像方法，其特征在于，包括： 利用双螺旋点扩散函数对透过散射介质的目标发出的光束进行相位调制； 改变目标的轴向离焦量，进行扫描探测，获取若干调制图像； 利用信号-背景比值对双螺旋点扩散函数在散射环境下的定位能力进行评估； 对所述若干调制图像进行图像处理得到目标的三维位置； 选取系统的焦面DH-PSF对所述若干调制图像进行反卷积算法光学切片，获得目标以及散射介质的清晰结构，重构目标在散射介质内的三维分布； 所述散射介质是生物组织； 所述用信号-背景比值对双螺旋点扩散函数在散射环境下的定位能力进行评估，包括： 读取所述若干调制图像，划分双光斑矩阵区域为信号，周围散斑为背景即弹道光和散射光； 计算所述若干调制图像的信号背景比SBR，即弹道光和散射光光强值之比，且确保SBR大于1； 根据所述若干调制图像计算目标三维位置，包括： 将标定样品放置系统中，加载双螺旋点扩散函数相位板进行调制； 使用双高斯拟合算法进行计算，确定两光斑的中心得到目标横向位置，确定两光斑连线的方位角，记录两光斑连线的方位角与轴向离焦量； 通过进行多次测量，得到方位角和轴向离焦量的关系曲线； 根据预先确定的旋转角度与轴向离焦量的关系曲线，使用双高斯定位法处理所述若干调制图像，确定处于不同深度的目标的三维位置。

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