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龙图腾网获悉中国科学院微电子研究所申请的专利一种芯片式光学测向定位装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115902765B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211143399.X，技术领域涉及：G01S3/78；该发明授权一种芯片式光学测向定位装置是由刘思远;韩春蕊;陈卓;王宇;叶征宇;亓岩;曲壮壮;路建明设计研发完成，并于2022-09-20向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片式光学测向定位装置在说明书摘要公布了：本申请提供一种芯片式光学测向定位装置，包括空间频谱采集模块、驱动模块、光电流处理模块和测向计算模块；空间频谱采集模块，包括多个干涉基线单元，用于采集目标光源的空间频谱；驱动模块提供相位调制电流，以使每个干涉基线单元实现0和π2两种外加相位差条件的相长和相消干涉；光电流处理模块对光电流进行放大和测量，得到对应的光电流强度；测向计算模块根据0和π2两种外加相位差条件下，相长和相消干涉对应的光电流强度，计算空间频谱点的强度和相位信息；进行傅里叶逆变换，完成目标光源图像的重构，以重构图像的中心为测向原点确定目标光源的方向，实现了高分辨率光源图像重构，进而精确测量出光源的相对方向，提高了光源测向的精确度。

本发明授权一种芯片式光学测向定位装置在权利要求书中公布了：1.一种芯片式光学测向定位装置，其特征在于，包括：空间频谱采集模块、驱动模块、光电流处理模块和测向计算模块； 所述空间频谱采集模块，包括多个干涉基线单元，用于采集目标光源的空间频谱，每个干涉基线单元对应采集一个空间频率点； 所述驱动模块，用于向每个所述干涉基线单元提供相位调制电流，以使每个所述干涉基线单元实现0和π2两种外加相位差条件的相长和相消干涉； 所述光电流处理模块，用于对每个所述干涉基线单元输出的光电流进行放大和测量，得到0和π2两种外加相位差条件的相长和相消干涉对应的光电流强度； 所述测向计算模块，用于控制所述驱动模块向每个所述干涉基线单元提供相位调制电流；以及根据所述光电流处理模块输出的0和π2两种外加相位差条件的相长和相消干涉分别对应的光电流强度，计算每个所述干涉基线单元采集的空间频谱点的强度和相位信息；将所有空间频谱点的强度和相位信息合并进行傅里叶逆变换，完成目标光源图像的重构，以重构图像的中心为测向原点确定目标光源的方向。

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