四川爱创科技有限公司李承隆获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾,真高效! 查专利查商标用IPTOP,全免费!专利年费监控用IP管家,真方便!
龙图腾网获悉四川爱创科技有限公司申请的专利硬盘IO性能测试方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115185753B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210811143.5,技术领域涉及:G06F11/22;该发明授权硬盘IO性能测试方法是由李承隆;向哲爽;李俐设计研发完成,并于2022-07-11向国家知识产权局提交的专利申请。
本硬盘IO性能测试方法在说明书摘要公布了:本发明硬盘IO性能测试方法,涉及IO性能测试,通过设置业务模型范围,根据所述业务模型范围确定硬盘读写模式、队列深度和线程数,在不同的队列深度和线程数下对硬盘进行FIO压力测试,并根据压力测试数据判断采样时间点,收集采样时间点的IO数据,以此生成不同队列深度下所有线程IO性能曲线图,解决了现有的硬盘IO性能测试结果不准确和显示不直观的问题,本发明适用于硬盘IO性能测试。
本发明授权硬盘IO性能测试方法在权利要求书中公布了:1.硬盘IO性能测试方法,其特征在于,包括以下步骤: S01、设置需要遍历的业务模型范围,根据所述业务模型范围确定所需要覆盖的硬盘读写模式、队列深度和线程数; S02、在不同队列深度和线程数下对硬盘进行FIO压力测试,获得压力测试数据; S03、根据压力测试数据判断采样时间点,并收集采样时间点的IO数据,获得该队列深度和线程数下对应的IO数据;根据压力测试数据判断采样时间的步骤包括: S201、将压力测试数据按时间顺序进行分段; S202、计算每一段时间内硬盘IO数据的期望与方差; S203、依次比较相邻两段时间内硬盘IO数据的期望和方差是否在预设范围内,如果在,则在所述相邻两段时间中靠后的时间段内选择采样时间点; S04、将各个队列深度下所有线程对应的IO数据整理并以图表形式显示。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人四川爱创科技有限公司,其通讯地址为:621000 四川省绵阳市安州区安州工业园区马鞍大道四川爱创科技有限公司;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息,力求客观、公正,但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解,仅供参考使用,不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。