歌尔光学科技有限公司刘浩获国家专利权
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龙图腾网获悉歌尔光学科技有限公司申请的专利测量光学薄膜抗拉伸强度的装置、方法及系统和主控终端获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115014954B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210610247.X，技术领域涉及：G01N3/08；该发明授权测量光学薄膜抗拉伸强度的装置、方法及系统和主控终端是由刘浩;傅文博;石玉君;饶轶设计研发完成，并于2022-05-31向国家知识产权局提交的专利申请。
本测量光学薄膜抗拉伸强度的装置、方法及系统和主控终端在说明书摘要公布了：本发明提出了一种测量光学薄膜抗拉伸强度的装置、方法及系统和主控终端，其中，测量光学薄膜抗拉伸强度的方法包括：先将待测样品放置于样品座上，并控制加热模块对样品座上的待测样品开始加热；再获取待测样品上的待测光学薄膜的薄膜状态信息以及待测样品的面形峰谷值，并根据薄膜状态信息，确定待测样品上的待测光学薄膜出现裂纹时，根据面形峰谷值确定待测样品在开始加热时到待测光学薄膜出现裂纹时的面形峰谷值变化量；最后根据面形峰谷值变化量和预设薄膜抗拉伸强度‑面形峰谷值变化量计算公式，确定待测光学薄膜抗拉伸强度。本发明旨在实现对光学薄膜抗拉伸强度的测试以及量化。
本发明授权测量光学薄膜抗拉伸强度的装置、方法及系统和主控终端在权利要求书中公布了：1.一种测量光学薄膜抗拉伸强度的方法，基于测量光学薄膜抗拉伸强度的装置，其特征在于，所述测量光学薄膜抗拉伸强度的装置包括样品座和加热模块，所述样品座用于放置待测样品，所述待测样品为镀有待测光学薄膜的标准基片，所述样品座设置于所述加热模块上； 所述测量光学薄膜抗拉伸强度的方法包括： 将所述待测样品放置于所述样品座上，并控制所述加热模块对所述样品座上的所述待测样品开始加热； 获取所述待测样品上的待测光学薄膜的薄膜状态信息以及所述待测样品的面形峰谷值，并根据所述薄膜状态信息，确定所述待测样品上的所述待测光学薄膜出现裂纹时，根据所述面形峰谷值确定所述待测样品在开始加热时到所述待测光学薄膜出现裂纹时的面形峰谷值变化量； 根据所述面形峰谷值变化量和预设薄膜抗拉伸强度-面形峰谷值变化量计算公式，确定所述待测光学薄膜抗拉伸强度。
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