硅谷实验室公司约翰·M·库利获国家专利权
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龙图腾网获悉硅谷实验室公司申请的专利用于高精度距离测量的相位测量获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114578334B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111279662.3，技术领域涉及：G01S11/02；该发明授权用于高精度距离测量的相位测量是由约翰·M·库利;Y·周;迈克尔·A·吴设计研发完成，并于2021-10-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本用于高精度距离测量的相位测量在说明书摘要公布了：在至少一个实施例中，一种用于测量包括第一本地振荡器的第一通信设备和包括第二本地振荡器的第二通信设备之间的距离的方法，包括解卷绕N个相位值以产生N个解卷绕相位值。N为大于1的整数。N个相位值中的每一个指示所接收信号的瞬时相位。该方法包括对N个解卷绕相位值进行平均以产生平均相位值。该方法包括卷绕平均相位值以产生第一本地振荡器相对于第二本地振荡器的最终相位测量。
本发明授权用于高精度距离测量的相位测量在权利要求书中公布了：1.一种用于测量包括第一本地振荡器的第一通信设备和包括第二本地振荡器的第二通信设备之间的距离的方法，所述方法包括： 通过将所接收信号的N个相应样本从笛卡尔表示转换为包括N个相位值的极坐标表示来产生所述N个相位值； 通过将所述N个相位值中的每一个与2π的相应倍数组合来解卷绕所述N个相位值以产生N个解卷绕相位值，其中N为大于1的整数，所述N个相位值中的每一个指示所接收信号的瞬时相位测量； 对所述N个解卷绕相位值进行平均以产生平均相位值；以及 通过对所述平均相位值执行模2π运算来卷绕所述平均相位值以产生所述第一本地振荡器相对于所述第二本地振荡器的最终相位测量。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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