特克特朗尼克公司A·克劳斯卡获国家专利权
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龙图腾网获悉特克特朗尼克公司申请的专利毫米波材料测试系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN112068115B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-16发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202010522507.9,技术领域涉及:G01S13/50;该发明授权毫米波材料测试系统是由A·克劳斯卡设计研发完成,并于2020-06-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本毫米波材料测试系统在说明书摘要公布了:本公开涉及与测试和测量系统相关的系统和方法,并且特别是涉及包括用于测试材料的雷达透射和反射率的测试和测量仪器的毫米波材料测试系统。测试和测量设备对被测材料的插入损耗进行测量。测试和测量设备包括与被测材料的第一表面接触的参考设备,所述参考设备包括反射组件和吸收组件。测试设备与被测试材料的与第一表面相反的第二表面接触。所述测试设备包括:第一发射器,用于透过被测材料向参考设备的反射组件输出预定频率的第一信号;第一接收器,用于接收来自反射组件的第一反射信号;第二发射器,用于透过被测材料向参考设备的吸收组件输出预定频率的第二信号;以及第二接收器,用于接收来自被测材料的第二反射信号。
本发明授权毫米波材料测试系统在权利要求书中公布了:1.一种测试和测量设备,包括: 参考设备,被构造成与被测材料的第一表面接触,所述参考设备包括反射组件和吸收组件;和 测试设备,被构造成与所述被测试材料的与所述第一表面相反的第二表面接触,所述测试设备包括: 第一发射器,被配置为透过所述被测材料向所述参考设备的所述反射组件输出预定频率的第一信号, 第一接收器,被配置为接收来自所述反射组件的第一反射信号, 第二发射器,被配置为透过所述被测材料向所述参考设备的所述吸收组件输出预定频率的第二信号,以及 第二接收器,被配置为接收来自所述被测材料的第二反射信号。
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