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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119826976B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510027243.2，技术领域涉及：G01J3/28；该发明授权一种对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法是由黄煜;于淇;李占峰;杨小虎;李乐设计研发完成，并于2025-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法，包括以下步骤：步骤一：参考光源特性精准测定与初始光场建模；步骤二：漫透射板内光散射过程深度模拟；步骤三：光传输至光谱仪入瞳过程的综合计算；步骤四：光谱偏移校正策略制定与实施。本发明的对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法，可完成高精度光谱任务，进一步提高定标精度。通过利用汞灯不同倾斜入射光谱仪漫投射板的情况，并进行理论分析和光谱定标矫正，这种分析可完成高精度光谱定标。本发明的对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法，能够通过精确的计算和分析提高光谱测量的精度和准确性，为光谱技术在众多领域的应用提供了坚实的技术支持。

本发明授权一种对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法在权利要求书中公布了：1.一种对于在轨光栅光谱仪光谱定标矫正的方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤一：参考光源特性精准测定与初始光场建模； 步骤二：漫透射板内光散射过程深度模拟； 步骤三：光传输至光谱仪入瞳过程的综合计算； 步骤四：光谱偏移校正策略制定与实施； 步骤一具体为： 对参考光源进行测量，记录不同波长下光的强度值，绘制光谱分布曲线； 测定光源的偏振态，测量光源的参数； 依据所测得的光源参数，构建参考光源的初始光场模型，设定光场的参数； 步骤二具体为： 对漫透射板内微小颗粒进行分析，获取微小颗粒的物理特性参数； 确定漫透射板的材质成分； 依据MIE散射理论计算得到的散射参数； 结合漫透射板的几何与物理特性，对光在漫透射板内的传播过程进行模拟； 步骤三具体为： 将漫透射板后表面上的散射辐亮度映射到狭缝的微元点上而后通过计算每个透射点在目标面上的光斑区，最终推导出散射光从漫透射板到光谱仪入瞳处的精确能量分布； 步骤四具体为： 根据每一个高度的辐照度和其光谱仪的光谱增宽，网格化的狭缝N列对应不同中心波长值和光谱增宽的理想高斯光束相加； 对相加后的辐照度分布做高斯拟合，求出中心波长，对应定标光源的标准波长进行比较，得出波长偏移量，从而对光谱定标进行良好矫正。

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