山东华芯半导体有限公司唐汉钊获国家专利权
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龙图腾网获悉山东华芯半导体有限公司申请的专利一种用于NAND控制器测试的命令生成方法、装置及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119782172B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411888927.3，技术领域涉及：G06F11/3668；该发明授权一种用于NAND控制器测试的命令生成方法、装置及介质是由唐汉钊;徐源长;刘浩旭;王璞;曹成设计研发完成，并于2024-12-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于NAND控制器测试的命令生成方法、装置及介质在说明书摘要公布了：本发明涉及NAND测试领域，具体是一种用于NAND控制器测试的命令生成方法、装置及介质。本发明将随机命令的生成过程分为两个阶段：预生成阶段首先确定命令类型和数量，并按照命令总数申请内存空间，然后将当前命令与其他命令的主要差异信息写入内存单元空间。即时生成阶段首先生成一条包含了每条命令与其他命令的共性部分的框架测试命令，读取在预生成阶段存储的主要差异信息并生成次要差异信息，将主要差异信息和次要差异信息填入框架测试命令，生成一条完整的测试命令并传输至NAND控制器。本发明通过平衡测试系统的内存及CPU资源，可提升测试软件的命令生成效率，以满足对NAND控制器的压力测试需求。
本发明授权一种用于NAND控制器测试的命令生成方法、装置及介质在权利要求书中公布了：1.一种用于NAND控制器测试的命令生成方法，其特征在于：本方法将随机命令的生成过程分为两个阶段：预生成阶段和即时生成阶段； 预生成阶段首先根据测试人员下发的配置信息确定命令类型和数量，并按照命令总数在内存中申请一块空间，然后确定各个命令的发送顺序，按照命令的发送顺序，将当前命令与其他命令的主要差异信息依次写入划分好的内存单元空间中； 即时生成阶段首先按照NAND控制器测试所需的测试命令格式生成一条框架测试命令，该框架测试命令包含了每条命令与其他命令的共性部分，并可反复使用，然后测试程序读取在预生成阶段存储的主要差异信息，同时生成次要差异信息，将主要差异信息和次要差异信息填入框架测试命令，从而生成一条完整的测试命令并传输至NAND控制器；按照这种方式依次生成测试命令直至达到预定命令数量； 主要差异信息与次要差异信息存在可调的比例关系。
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