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龙图腾网获悉河南嘉晨智能控制股份有限公司申请的专利一种基于双MCU的内部模块电路校验方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119780670B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411877949.X，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种基于双MCU的内部模块电路校验方法及系统是由季金炎;刘毅;李飞;姚欣设计研发完成，并于2024-12-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双MCU的内部模块电路校验方法及系统在说明书摘要公布了：本发明属于电路校验技术领域，具体涉及一种基于双MCU的内部模块电路校验方法及系统，该方法包括第一MCU模块发出第一EN信号驱动被测电路模块产生内部信号，过程采样模块采集对被测电路模块的内部信号进行采样获取第一采样信号，由第一MCU模块和第二MCU模块，通过比较发现第一采样信号与预期信号是否一致，若一致，则判断被测电路模块工作正常，否则第一MCU模块关闭发出第一EN信号，由第二MCU模块发出第二EN信号和第二Signal信号，构造第二采样信号，基于第二采样信号对被测电路模块进行第二次采样获取新的第一采样信号，基于新的第一采样信号判断故障。本发明能通过对电路进行自校验证，实现电路故障的快速判断。

本发明授权一种基于双MCU的内部模块电路校验方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于双MCU的内部模块电路校验方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤S1、第一MCU模块发出第一EN信号至驱动电路模块，驱动电路模块接收所述第一EN信号后发出第一SignalEN信号，并发送到被测电路模块，所述被测电路模块经过内部处理输出内部信号； 步骤S2、在所述被测电路模块输出所述内部信号的过程中，过程采样模块对所述被测电路模块的内部信号进行采样，输出第一采样信号，还将所述第一采样信号发送到所述第一MCU模块和第二MCU模块； 步骤S3、所述第一MCU模块和所述第二MCU模块第一次比较所述第一采样信号与预期信号，若所述第一MCU模块和所述第二MCU模块均发现所述第一采样信号与所述预期信号一致，说明被测电路模块工作正常，若所述第一MCU模块和所述第二MCU模块中任意一个发现所述第一采样信号与所述预期信号不一致，执行步骤S4； 步骤S4、所述第一MCU模块关闭输出第一EN信号，所述第二MCU模块发出第二EN信号和第二SignalEN信号，通过使能电路模块和校验信号构造模块构造新的第二采样信号到所述被测电路模块； 步骤S5、基于所述第二采样信号输入所述被测电路模块后对所述被测电路模块输出的所述内部信号进行第二次采样，获取到新的第一采样信号，将新的所述第一采样信号输入所述第一MCU模块和所述第二MCU模块判断故障信息。

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