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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种有角度入射探测器拼接方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119211751B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411217379.1，技术领域涉及：H04N23/951；该发明授权一种有角度入射探测器拼接方法是由柴方茂;刘强;杨会生;鲍赫;张学军;王冬冬设计研发完成，并于2024-09-02向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种有角度入射探测器拼接方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种有角度入射探测器拼接方法，属于光学遥感技术领域，包括焦面板组件、拼接基座以及拼接仪，焦面板组件包括焦面基板以及连接在焦面基板上的三片探测器和修研垫，拼接基座是为了实现有角度入射探测器拼接而研制的高刚度、高精度的工艺工装；拼接仪是实现焦面板组件高精度拼接的核心光学仪器，可以实现高精度三维平动，并为拼接基座提供一个高精度的固定平台。本发明的一种有角度入射探测器拼接方法适应场景更加全面，在满足探测器拼接共面的基础上，又能保证整个像面不会存在遮挡，并能通过两种角度检测，实现拼接效果的复核，提高了成像效果。

本发明授权一种有角度入射探测器拼接方法在权利要求书中公布了：1.一种有角度入射探测器拼接方法，其特征在于，包括焦面板组件1、拼接基座2以及拼接仪3，所述焦面板组件1包括焦面基板101以及连接在所述焦面基板101上的三片探测器102和修研垫103，该拼接方法包括如下步骤： S1：用显微镜检测每片探测器102的标记点及像元位置关系，修正设计的理论数据，建立实际的标记点及像元位置关系； S2：将焦面基板101连接到拼接基座2上，用三坐标测量焦面基板101上的修研垫103安装面与拼接基座2底面的角度； S3：用三维模型建立步骤S2所测角度下的三片探测器102拼接状态的模型，并保证坐标系方向与拼接仪3坐标系方向一致，记录三片探测器102所有标记点的XYZ坐标； S4：拆下焦面基板101，将三片探测器102和修研垫103安装到焦面基板101上，组成焦面板组件1； S5：将拼接基座2安装到拼接仪3平面上，摆正，保证与三维建模方向一致； S6：将焦面板组件1与拼接基座2的组件集成，并安装到拼接仪3平台上，摆正，保证与三维建模方向一致； S7：用拼接仪3找到一个标记点，在拼接仪3上将该点坐标清零，即为原点； S8：测试所有标记点的坐标，并与模型坐标比对，通过平面拟合，计算出每片探测器102的修研量和修研方向； S9：按照计算值，加工修研垫103； S10：将拼接完成的焦面板组件1安装到六维调整架上，再将组合体放到拼接仪3平台上，通过调整六维调整架角度，复核三片探测器102标记点共面数据。

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