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佛山市中山大学研究院;中山大学裴艳丽获国家专利权

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龙图腾网获悉佛山市中山大学研究院;中山大学申请的专利一种ε-Ga2O3基PIN结构异质结日盲紫外探测器及其制备方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118983367B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411037412.2,技术领域涉及:H10F30/223;该发明授权一种ε-Ga2O3基PIN结构异质结日盲紫外探测器及其制备方法是由裴艳丽;费泽元;陈梓敏;王钢设计研发完成,并于2024-07-31向国家知识产权局提交的专利申请。

一种ε-Ga2O3基PIN结构异质结日盲紫外探测器及其制备方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种ε‑Ga2O3基PIN结构异质结日盲紫外探测器及其制备方法,新材料制备的探测器,针对现有技术功耗高等问题提出本方案。包括依次层叠设置的顶电极、NiO薄膜、ε‑Ga2O3本征层、4H‑SiC衬底和底电极。制备步骤包括:4H‑SiC衬底预处理;金属有机化学气相沉积ε‑Ga2O3本征层;射频磁控溅射NiO薄膜;电子束蒸发制备顶电极、底电极。优点在于,Ga2O3的使用量降低,能降低功耗。在4H‑SiC衬底上生长ε‑Ga2O3,基于SiC具有4.9Wcm·K的优异热导率,ε‑Ga2O3本征层大量的热量可从4H‑SiC衬底中传递解决。同时,正交结构的ε‑Ga2O3晶体与4H‑SiC的面内晶格常数差较小,可以提高ε‑Ga2O3本征层的结晶质量,进而提高光电探测器的探测性能。

本发明授权一种ε-Ga2O3基PIN结构异质结日盲紫外探测器及其制备方法在权利要求书中公布了:1.一种ε-Ga2O3基PIN结构异质结日盲紫外探测器,其特征在于,包括从上至下依次层叠设置的顶电极10、NiO薄膜20、ε-Ga2O3本征层30、4H-SiC衬底40和底电极50;其中NiO薄膜20作为P型层、ε-Ga2O3本征层30作为光吸收层、4H-SiC衬底40作为N型层,从而构成PIN结构异质结; 所述NiO薄膜20为圆台结构,所述顶电极10为圆环结构;顶电极10的外边缘与NiO薄膜20的外边缘在垂直位置上对齐; 所述NiO薄膜20在一侧延伸出承托部21;所述顶电极10在承托部21上方延伸出焊金部11。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人佛山市中山大学研究院;中山大学,其通讯地址为:528200 广东省佛山市南海软件科技园研发楼A栋三层西区;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。

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