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龙图腾网获悉上海精积微半导体技术有限公司申请的专利测试设备中信号通道的校准方法和校准装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118707426B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410893820.1，技术领域涉及：G01R35/02；该发明授权测试设备中信号通道的校准方法和校准装置是由黄燕设计研发完成，并于2024-07-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试设备中信号通道的校准方法和校准装置在说明书摘要公布了：本发明公开一种测试设备中信号通道的校准方法和校准装置，在校准方法中，基于触发信号生成校准信号，校准信号经过各路信号通道后并通过选通开关逐一传输至时间数字转换器，由时间数字转换器据此计算得到每一路信号通道的总延时量，并得到每一路信号通道相比于参考通道的待校准时间差；获得已完成静态校准的每一路信号通道相比于参考通道的参考时间差，基于待校准时间差与参考时间差之间的大小得到延时补偿值，采用延时补偿值对每一路信号通道的信号输出延时量进行补偿而校准每一路信号通道发送信号的时间。本发明可在完成静态校准的基础上，在测试设备动态变速的情形下，无需装配校准板即可完成校准任务，整个校准过程操作简单、快速。

本发明授权测试设备中信号通道的校准方法和校准装置在权利要求书中公布了：1.一种测试设备中信号通道的校准方法，其特征在于，所述校准方法包括： 由信号触发模块输出触发信号至时间数字转换器和信号生成模块； 由所述信号生成模块基于接收的触发信号生成初始校准信号，并将所述初始校准信号输出至测试设备对应的多路信号通道，通过每一路所述信号通道将所述初始校准信号输出至整形模块； 由所述整形模块将每一路所述初始校准信号整形处理后得到与每一路所述信号通道对应的目标校准信号，通过选通开关逐一选通所述信号通道对应的目标校准信号，并传输至所述时间数字转换器； 由所述时间数字转换器根据接收到的每一路所述信号通道对应的目标校准信号的时间和接收到所述触发信号的时间，计算每一路所述信号通道对应的总延时量； 由处理模块从所述信号通道中选定参考通道，根据每一路所述信号通道对应的总延时量，得到每一路所述信号通道相比于所述参考通道的待校准时间差，并获取已在信号标准发送速率下完成静态校准的每一路所述信号通道相比于所述参考通道的参考时间差，基于所述待校准时间差与所述参考时间差之间的大小得到延时补偿值，采用所述延时补偿值对每一路所述信号通道的信号输出延时量进行补偿而校准每一路所述信号通道发送信号的时间。

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