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龙图腾网获悉四川省冶勘设计集团有限公司申请的专利基于关联反射系数的大地电磁数据成像处理方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116990873B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202311015216.0，技术领域涉及：G01V3/38；该发明授权基于关联反射系数的大地电磁数据成像处理方法是由陈先洁;王文斌;罗威;林友全;蓝星;覃浩坤;刘鹏;董晓宏;许洋;王森茂;路润琪;王韶军;蒋富鹏设计研发完成，并于2023-08-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于关联反射系数的大地电磁数据成像处理方法在说明书摘要公布了：本发明公开了基于关联反射系数的大地电磁数据成像处理方法，包括：获取数个测点的待处理的大地电磁数据；对大地电磁数据进行预处理；求得大地电磁数据的初始反射系数K1；根据初始反射系数K1的值的正负性，对初始反射系数K1的值进行校正，得到第二反射系数K2；根据大地电磁数据的相邻测点的关联性，对第二反射系数K2的值进行校正处理，得到第三反射系数K3；根据第三反射系数K3的值对大地电磁数据中反演的电阻率R1进行校正，得到电阻率R2，并成像。本发明具有逻辑简单、抗干扰能力强等优点，在大地电磁数据处理技术领域具有很高的实用价值和推广价值。

本发明授权基于关联反射系数的大地电磁数据成像处理方法在权利要求书中公布了：1.基于关联反射系数的大地电磁数据成像处理方法，其特征在于，包括以下步骤: 获取数个测点的待处理的大地电磁数据，并对大地电磁数据中反演的电阻率标记为R1； 对大地电磁数据进行预处理；所述预处理包括地均匀网格化、插值处理； 求得预处理后的大地电磁数据的初始反射系数K1； 根据初始反射系数K1的值的正负性，对初始反射系数K1的值进行校正，得到第二反射系数K2； 根据大地电磁数据的相邻测点的关联性，对第二反射系数K2的值进行校正处理，得到第三反射系数K3，其包括： 获取同一深度的所有测点的第二反射系数K2，并求得标准差Std1; 根据位置关系对同一深度的所有测点进行排列，并采用长度为A进行测点窗口选取，并求得测点窗口内的测点的第二反射系数K2对应的标准差Std2；所述A为大于0的自然数； 若标准差Std2大于标准差Std1，则求得测点窗口内的测点的第二反射系数K2的平均值，将平均值作为测点窗口内的中心测点的第二反射系数K2； 若标准差Std2小于标准差Std1，则测点窗口内的中心测点的第二反射系数K2不变； 得到第三反射系数K3； 根据第三反射系数K3的值对大地电磁数据中反演的电阻率R1进行校正，得到电阻率R2；对电阻率R2进行成像；所述电阻率R2的表达式为： ，其中，表示第n层深度对应的电阻率；表示第n-1层深度对应的电阻率；表示第n层深度对应的第三反射系数；表示第n层深度对应的初始反射系数。

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