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龙图腾网获悉中国航空综合技术研究所申请的专利近表面微缺陷水浸式横波混频超声检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116593586B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310563726.5，技术领域涉及：G01N29/04；该发明授权近表面微缺陷水浸式横波混频超声检测方法是由吕洪涛;王俊涛;刘志毅;石亮;李锋设计研发完成，并于2023-05-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本近表面微缺陷水浸式横波混频超声检测方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种近表面微缺陷水浸式横波混频超声检测方法，通过优化选取非共线横波混频非线性超声检测参数，对待检测试件沿深度方向开展水浸式非共线横波混频扫查检测，并利用n‑p信号处理方法提取扫查数据中的和频纵波信号幅值，根据和频纵波幅值沿深度方向的变化曲线A‑D曲线特征，评判待测试件近表面微缺陷的情况。本方法检测待检测试件近表面微缺陷，解决了传统无损检手段无法实现近表面微缺陷检测的难题，且检测结果评判简单、可靠，可实现自动化扫查检测，具有广泛适用性的特点。

本发明授权近表面微缺陷水浸式横波混频超声检测方法在权利要求书中公布了：1.一种近表面微缺陷水浸式横波混频超声检测方法，其特征在于：其包括以下步骤： S1、制备与待检测试验块形状、材质、成型工艺、热处理状态以及表面粗糙情况均相同的正常试验块； S2、优化水浸式非线性超声检测参数，获取最佳和频纵波值，其包括以下子步骤： S21、确定两基频横波的相互作用角α和频率比r； S22、计算水中两入射纵波的入射角，具体计算步骤如下： 首先根据两基频横波的相互作用角α得出两基频横波的相互作用角α与水中两入射纵波的入射角之间的关系式，如式2所示： 式中，vw为试件周围液体中纵波的声速，vs为被测试件内横波的声速，α为试件内两基频横波的相互作用角，θ1、θ2分别为水中两入射纵波的入射角； 取θ1＝θ2＝θ，对式2进行简化，得到公式3，利用公式3计算水中两入射纵波的入射角； S23、计算和频纵波散射角ψ，布置纵波直探头，具体计算步骤如下： 以步骤S21得到的两基频横波的相互作用角α和频率比r以及水中两入射纵波的入射角发射两束基频横波，新产生的和频纵波的波矢k3与入射横波波矢k1的夹角即为和频纵波散射角ψ，和频纵波散射角ψ根据下式4进行计算，根据该和频纵波散射角ψ，布置纵波直探头，用于接收和频纵波； S24、利用n-p信号处理方法计算最佳和频纵波：利用四种不同初始相位组合的电压信号分别进行非共线横波检测，将采集到的四个检测信号按式5所述的n-p信号处理方法进行分析处理，提取检测信号中混频分量即为和频纵波yt， 式中，yppt、ynnt、ynpt和ypnt分别是四种不同初始相位组合的基频横波x1t、x2t相互作用获得的检测信号，分别如式6～9所示； 式中，上标n、p分别表示两基频横波的初始相位，且|n-p|＝180°； S3、对正常试验块以及待检测试验块进行水浸式非共线横波混频检测，并得到正常试验块以及待检测试验块的A-D曲线： 根据步骤S2获得的两基频横波的相互作用角α和频率比r，在正常试验块以及待检测试件上进行水浸式非共线横波混频扫查检测，对获得的检测信号利用n-p信号处理方法进行分析处理，分别提取正常试验块以及待检测试验块不同水平检测位置与不同深度处的和频纵波幅值，绘制各个水平位置处和频纵波幅值随深度的变化曲线，即为A-D曲线； S4、将A-D曲线的特征分为a特征和b特征，其中a特征为随深度的增加，和频纵波幅值逐渐降低，b特征为随深度的增加，和频纵波幅值先增加后逐渐降低； S5、近表面微缺陷判断，其包括以下子步骤： S51、提取正常试验块A-D曲线的特征： 正常试验块的A-D曲线的特征为a特征； S52、提取待检测试验块A-D曲线的特征并对待检测试验块的近表面微缺陷进行判断： 当待检测试验块的A-D曲线特征存在b特征时，判定该待检测试验块的近表面存在微缺陷； 当待检测试验块的A-D曲线特征均为a特征时，计算待检测试验块的A-D曲线峰值A1与正常试验块的A-D曲线峰值A2的偏离程度ΔA，ΔA＝|A1-A2|A2，将ΔA与设定的阈值B进行比较，当ΔA大于B时，则判定该待检测试验块的近表面存在微缺陷。

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