长鑫存储技术有限公司程彪获国家专利权
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龙图腾网获悉长鑫存储技术有限公司申请的专利半导体存储装置及其终端电阻的状态转换检测电路和方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119007795B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310546448.2，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权半导体存储装置及其终端电阻的状态转换检测电路和方法是由程彪设计研发完成，并于2023-05-12向国家知识产权局提交的专利申请。
本半导体存储装置及其终端电阻的状态转换检测电路和方法在说明书摘要公布了：本公开提供一种半导体存储装置及其终端电阻的状态转换检测电路和方法。半导体存储装置包括第1至第M待检测信号输入输出端子，该状态转换检测电路包括：第i逻辑检测电路，用于接收第i位待检测信号的控制逻辑信号，对第i位待检测信号的终端电阻的控制逻辑信号进行逻辑运算生成第i位检测结果信号；第j检测模式控制电路，其连接第j待检测信号输入输出端子和所述第i逻辑检测电路，用于接收模式检测控制信号，在所述模式检测控制信号为第一电平时，将所述第i位检测结果信号通过所述第j待检测信号输入输出端子输出，以确定第i位待检测信号的终端电阻的转换状态；i和j不同。可以将终端电阻的状态切换的时间精确到时钟周期级别。
本发明授权半导体存储装置及其终端电阻的状态转换检测电路和方法在权利要求书中公布了：1.一种半导体存储装置中终端电阻的状态转换检测电路，其特征在于，所述半导体存储装置包括第1至第M待检测信号输入输出端子，所述状态转换检测电路包括： 第i逻辑检测电路，用于接收第i位待检测信号的终端电阻的控制逻辑信号，对所述第i位待检测信号的终端电阻的控制逻辑信号进行逻辑运算生成第i位检测结果信号； 第j检测模式控制电路，其连接第j待检测信号输入输出端子和所述第i逻辑检测电路，用于接收模式检测控制信号，在所述模式检测控制信号为第一电平时，将所述第i位检测结果信号通过所述第j待检测信号输入输出端子输出，以确定第i位待检测信号的终端电阻的转换状态； 其中，M为大于1的整数，i和j均为大于或等于1且小于或等于M的整数，且i和j不同。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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