湖南大学;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心刘坚获国家专利权
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龙图腾网获悉湖南大学;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心申请的专利环状工件的缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116757992B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310315422.7，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权环状工件的缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质是由刘坚;张杰;索鑫宇;周羽卓;吴卓骅设计研发完成，并于2023-03-27向国家知识产权局提交的专利申请。
本环状工件的缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种环状工件的缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质，方法在计算设备中执行，包括：获取环状工件的待检测图像；从待检测图像中提取环状感兴趣区域并进行展开，得到待检测矩形展开图；根据灰度概率分布矩阵，确定待检测矩形展开图的像素灰度概率，以构建概率图，并确定概率图中的缺陷区域；对概率图中的缺陷区域进行灰度修复，得到修复图；根据修复图，构建自适应无缺陷模板；计算自适应无缺陷模板与待检测矩形展开图的绝对差值，得到缺陷残差图，以便根据缺陷残差图定位环状工件的缺陷位置。根据本发明的技术方案，能提高对环状工件的大尺寸缺陷的检测效果，实现高精度检测，同时优化了算法，提高了缺陷检测效率。
本发明授权环状工件的缺陷检测方法、装置、计算设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种环状工件的缺陷检测方法，在计算设备中执行，包括： 获取环状工件的待检测图像； 从所述待检测图像中提取环状感兴趣区域，并进行展开，得到待检测矩形展开图； 根据灰度概率分布矩阵，确定所述待检测矩形展开图的像素灰度概率，以构建概率图，并确定所述概率图中的缺陷区域； 对所述概率图中的缺陷区域进行灰度修复，得到修复图； 根据所述修复图，构建自适应无缺陷模板； 计算所述自适应无缺陷模板与所述待检测矩形展开图的绝对差值，得到缺陷残差图，以便根据所述缺陷残差图定位所述环状工件的缺陷位置。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人湖南大学;无锡市锡山区半导体先进制造创新中心，其通讯地址为：410082 湖南省长沙市岳麓区麓山南路麓山门；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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