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龙图腾网获悉深圳大普微电子科技有限公司申请的专利一种数据保存期的预测方法及相关组件获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114297096B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-19发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111679426.0，技术领域涉及：G06F12/02；该发明授权一种数据保存期的预测方法及相关组件是由王岩;杨亚飞设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种数据保存期的预测方法及相关组件在说明书摘要公布了：本发明公开了一种数据保存期的预测方法及相关组件，在确定了样本存储数据区域中的N个采样存储单元后，首先基于各个第一采样存储单元的最小单元存储数据的错误情况来建立各个第一采样存储单元对应的第一错误混淆矩阵，通过对各个第一错误混淆矩阵执行机器学习操作，以获得数据保存期预测模型，从而在期望对待测存储数据区域的数据保存期进行预测时，利用数据保存期预测模型对待测存储数据区域的数据保存期进行预测。可见，本申请中先通过样本存储数据区域建立数据保存期预测模型，以便待测存储数据区域均能够根据数据保存期预测模型进行数据保存期的预测，从而根据预测的数据保存期对待测存储数据区域存储的数据进行处理，避免存储数据的丢失。

本发明授权一种数据保存期的预测方法及相关组件在权利要求书中公布了：1.一种数据保存期的预测方法，其特征在于，包括： 确定样本存储数据区域中的N个第一采样存储单元，其中N为正整数； 基于各个所述第一采样存储单元的最小单元存储数据的错误情况建立各个所述第一采样存储单元对应的第一错误混淆矩阵； 对各个所述第一错误混淆矩阵执行机器学习，以获得数据保存期预测模型； 利用所述数据保存期预测模型对待测存储数据区域的数据保存期进行预测； 所述基于各个所述第一采样存储单元的最小单元存储数据的错误情况建立各个所述第一采样存储单元对应的第一错误混淆矩阵，包括： 基于各个所述第一采样存储单元的最小单元中每个比特的存储电量的变化确定所述最小单元中的编程状态的变化关系，以对最小单元可能发生的数据错误进行错误分类； 按照所述错误分类统计各个所述第一采样存储单元中最小单元存储数据的错误情况，以获得各个所述第一采样存储单元对应的每类错误的错误统计个数； 基于各个所述第一采样存储单元对应的所述每类错误的错误统计个数建立对应的所述第一错误混淆矩阵； 利用所述数据保存期预测模型对待测存储数据区域的数据保存期进行预测之后，还包括： 判断所述待测存储数据区域的数据保存期是否小于预设保质期阈值； 若是，则将所述待测存储数据区域存储的数据进行重写或转移至备用存储位置； 若否，则保留所述待测存储数据区域存储的数据。

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