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中国科学院长春光学精密机械与物理研究所梁旭获国家专利权

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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种基于融合信号的光栅绝对定位装置以及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN120521507B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202511033094.7,技术领域涉及:G01B11/02;该发明授权一种基于融合信号的光栅绝对定位装置以及方法是由梁旭;李文昊;刘兆武;曾鹏;陈丹怡设计研发完成,并于2025-07-25向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于融合信号的光栅绝对定位装置以及方法在说明书摘要公布了:本发明涉及光栅尺测量技术领域,尤其涉及一种基于融合信号的光栅绝对定位装置以及方法,基于融合信号的光栅绝对定位装置包括:测量光栅,测量光栅包括刻线区和非反射区,多个刻线区作为增量码道,非反射区作为参考标记;读数头,读数头包括参考组件、光源、干涉光路结构以及四步相移结构,光源发出的高斯光束经过干涉光路结构分束为第一光束和第二光束,第一光束射入测量光栅形成测量光,第二光束射入参考组件形成参考光,参考光和测量光经过干涉光路结构发生干涉形成干涉光,四步相移结构接收干涉光,并基于干涉光形成干涉信号。本发明至少有利于降低基于融合信号的光栅绝对定位装置的结构复杂度。

本发明授权一种基于融合信号的光栅绝对定位装置以及方法在权利要求书中公布了:1.一种基于融合信号的光栅绝对定位装置,其特征在于,包括: 测量光栅,所述测量光栅包括刻线区和非反射区,多个刻线区沿第一方向间隔排布,所述非反射区位于相邻的两个刻线区之间,所述刻线区包括沿所述第一方向周期排布的多个刻线,所述刻线区的表面具有反射层,所述非反射区的表面不具有反射层,多个所述刻线区作为增量码道,所述非反射区作为参考标记; 读数头,所述读数头包括参考组件、光源、干涉光路结构以及四步相移结构,所述光源发出的高斯光束经过所述干涉光路结构分束为第一光束和第二光束,所述第一光束射入所述测量光栅形成测量光,所述第二光束射入参考组件形成参考光,所述参考光和所述测量光经过所述干涉光路结构发生干涉形成干涉光,所述四步相移结构接收所述干涉光,并基于所述干涉光形成干涉信号; 所述读数头相对于所述测量光栅沿所述第一方向移动,根据所述干涉信号确定所述读数头的增量位移,所述第一光束照射所述参考标记时所述干涉信号的幅值小于所述第一光束照射所述增量码道时所述干涉信号的幅值,且仅所述第一光束的中心与所述参考标记的中心正对时,所述干涉信号的幅值最小。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,其通讯地址为:130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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