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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利磁流变抛光异常状态实时监控方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120493142B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510994145.6，技术领域涉及：G06F18/2433；该发明授权磁流变抛光异常状态实时监控方法是由李龙响;颜克雄;程强;李兴昶;张学军设计研发完成，并于2025-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本磁流变抛光异常状态实时监控方法在说明书摘要公布了：本发明属于光学加工实时监控技术领域，尤其涉及一种磁流变抛光异常状态实时监控方法。方法包括：S1：结合位移传感器获取完整磁流变抛光加工流程下的缎带数据；S2：数据处理模块基于相邻缎带数据各自对应的缎带轮廓向量，计算当前采样点的磁流光抛光状态；S3：加工控制模块判断当前采样点下的磁流光抛光状态显示是否正常，若是，则基于当前的加工磨头对镜面进行磁流变抛光，基于步骤S1‑S2计算下一采样点下的磁流光抛光状态，直至磁流变抛光结束，否则对当前的加工磨头进行处理，并基于步骤S1‑S2计算下一采样点下的磁流光抛光状态，直至磁流变抛光结束。本发明能够实现自动化的准确的磁流变抛光异常状态监控。

本发明授权磁流变抛光异常状态实时监控方法在权利要求书中公布了：1.一种磁流变抛光异常状态实时监控方法，其特征在于，所述方法具体包括如下步骤： S1：结合位移传感器获取完整磁流变抛光加工流程下的缎带数据，且相邻采样点的采样间隔时间为T； S2：数据处理模块基于相邻缎带数据各自对应的缎带轮廓向量，计算当前采样点的磁流光抛光状态； 在步骤S2中，基于相邻采样点各自对应的缎带轮廓向量，计算当前采样点的磁流光抛光状态所采用的公式为： （1）； 其中，i为缎带轮廓向量中的第i个元素，t为完整磁流变抛光加工流程中的第t秒，E为缎带轮廓向量，为加工速度，为允差，为抛光轮处于镜面外时的缎带轮廓，为抛光轮处于镜面内时的缎带轮廓，为相邻采样点之间的距离，为抛光轮在镜面外和镜面内之间发生突变时的极限点对应的缎带轮廓向量中的元素编号； S3：加工控制模块判断当前采样点下的磁流光抛光状态显示是否正常，若是，则基于当前的加工磨头对镜面进行磁流变抛光，基于步骤S1-S2计算下一采样点下的磁流光抛光状态，直至磁流变抛光结束，否则对当前的加工磨头进行处理，并基于步骤S1-S2计算下一采样点下的磁流光抛光状态，直至磁流变抛光结束。

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