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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种光学成像和雷达探测共孔径成像系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120468834B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510965240.3，技术领域涉及：G01S13/86；该发明授权一种光学成像和雷达探测共孔径成像系统是由姜肖楠;贾平;黄泽贤;吴凡路;李超;徐萌萌;付天骄;孙侨;姚园;傅瑶;张雨;王岩松设计研发完成，并于2025-07-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种光学成像和雷达探测共孔径成像系统在说明书摘要公布了：本发明涉及空间探测技术领域，具体提供一种光学成像和雷达探测共孔径成像系统，包括光波和微波共孔径的同轴反射镜组、雷达馈源、光学成像系统，以及用于分离光波和微波的分频分光元件，其中，同轴反射镜组不仅用于收集光波，还与雷达馈源构成微波的收发天线，负责微波的发射和接收，同轴反射镜组收集的光波被分频分光元件反射向光学成像系统进行光学成像，微波透射经过分频分光元件，射向雷达馈源进行雷达探测。本发明不仅实现了光学成像和雷达探测的共孔径设计，并且将雷达馈源和光学成像系统设置在同轴反射镜组的同侧，降低系统复杂度，此外，采用透微波反光波的分光分频方式，解决了因金属格栅多级衍射造成的光学成像质量下降的问题。

本发明授权一种光学成像和雷达探测共孔径成像系统在权利要求书中公布了：1.一种光学成像和雷达探测共孔径成像系统，其特征在于，包括：光波和微波共孔径的同轴反射镜组、分频分光元件、雷达馈源和光学成像系统； 所述同轴反射镜组用于收集光波和微波，并将光波和微波射向所述分频分光元件； 所述分频分光元件用于在回波成像过程中将光波与微波分离，微波由所述分频分光元件透射，并射向所述雷达馈源；光波被所述分频分光元件反射，射向所述光学成像系统； 所述分频分光元件包括：石墨烯控制层，通过控制所述石墨烯控制层上施加的电压，改变所述分频分光元件的微波透射率；所述石墨烯控制层包括石墨烯层、栅极电介质层和顶栅电极，其中，所述顶栅电极用于提供可控的电压，所述顶栅电极的电压通过所述栅极电介质层施加在所述石墨烯层，当所述石墨烯层上施加电压，所述石墨烯层的表面导电率增大，对微波呈吸收态，透射过所述分频分光元件的微波功率降低；当所述石墨烯层上无施加电压，微波完全透射过所述分频分光元件； 所述雷达馈源用于微波收发及成像； 所述光学成像系统用于接收光波及成像。

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