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龙图腾网获悉西安爱德华测量设备股份有限公司申请的专利长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120445091B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510926245.5，技术领域涉及：G01B11/245；该发明授权长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统是由李刚;柳涛设计研发完成，并于2025-07-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统在说明书摘要公布了：本发明公开了长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统，涉及快速测量技术领域，包括：采集模块，用于通过双投影仪投射四方向正交结构光，配合高速工业相机及六自由度机械臂采集长方体工件的粗定位点云；编码模块，用于生成格雷码与相移条纹的组合编码序列，通过相位解算获取包裹相位，利用双频条纹计算外差绝对相位，结合置信度权重图进行相位展开，并通过径向基函数网络补偿投影畸变；点云处理模块，通过语义分割将点云标注为平面、棱边或拐角区域，对平面区域施加法向量垂直性约束，对棱边区域施加直线度约束，对拐角区域施加曲率约束，并通过计算综合误差判定测量是否合格，确保了测量结果的准确性和可靠性。

本发明授权长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统在权利要求书中公布了：1.长方体工件在三坐标结构光下的快速测量系统，其特征在于：包括： 采集模块，用于投射四方向正交结构光，采集长方体工件的粗定位点云； 编码模块，用于生成格雷码与相移条纹的组合编码序列，通过相位解算获取包裹相位，利用双频条纹计算外差绝对相位，结合置信度权重图进行相位展开，基于几何参数将绝对相位转换为三维坐标，并通过径向基函数网络补偿投影畸变； 所述编码模块生成格雷码与相移条纹的组合编码序列时，具体包括： 采用n位格雷码生成个条纹周期，通过德布鲁因序列优化格雷码编码，使邻接跳变最小；采用波长为λ的相移条纹，生成m幅相位差均匀分布的相移条纹，覆盖整个相位周期，组合格雷码与相移条纹形成编码序列； 所述编码模块通过以下方式进行相位解算： 将确定的格雷码值转换为二进制索引，组合所有位的二进制索引，得到每个像素在图像中的粗条纹索引，将二进制索引转换为十进制索引，得到该像素的绝对周期数； 使用反正切公式计算包裹相位，范围为[-π，π]； 通过频率比为3:1双频条纹组合，计算外差绝对相位，当外差绝对相位的绝对值大于π时，标记相位跳变点并触发局部重解算； 所述编码模块生成置信度权重图，包括： 基于相位调制度和相位导数生成置信度权重图： ，其中，Confidence为置信度权重，Modulation为相位调制度，为包裹相位的梯度，ω为梯度权重； 点云处理模块，通过语义分割将点云标注为平面、棱边或拐角区域，对平面区域施加法向量垂直性约束，对棱边区域施加直线度约束，对拐角区域施加曲率约束，并通过计算综合误差判定测量是否合格。

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