长春理工大学赵猛获国家专利权
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龙图腾网获悉长春理工大学申请的专利温度和发射率反演方法、系统、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120313740B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510803339.3，技术领域涉及：G01J5/10；该发明授权温度和发射率反演方法、系统、设备及存储介质是由赵猛;白少东;谭勇;郝群;张烨;汪剑波;吴兆君;邱征;白茂勇;秦志成;李志鹏;蔡红星设计研发完成，并于2025-06-17向国家知识产权局提交的专利申请。
本温度和发射率反演方法、系统、设备及存储介质在说明书摘要公布了：温度和发射率反演方法、系统、设备及存储介质，属于图像和光谱分析结合技术领域，提出一种能够基于辐射亮度有效地给出温度分布和发射率分布的测量方法。光谱仪获取待测物体温度场不同波长的光谱辐射亮度；待测物体温度场不同波长的光谱辐射亮度转换为待测物体温度场不同波长的光谱辐射强度；灰度图像传感器获得待测物体温度场图像，提取待测物体温度场图像的灰度值，将其转化为待测物体温度场图像的辐射亮度；待测物体温度场图像的辐射亮度转换为待测物体温度场图像的辐射强度；待测物体温度场不同波长的光谱辐射强度和待测物体温度场图像的辐射强度进行联立；基于辐射强度方程组，分别获得发射率分布和温度分布。
本发明授权温度和发射率反演方法、系统、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.温度和发射率反演方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1，基于光谱仪获取待测物体温度场不同波长的光谱辐射亮度； 步骤S2，将待测物体温度场不同波长的光谱辐射亮度转换为待测物体温度场不同波长的光谱辐射强度； 步骤S3，图像传感器获得待测物体温度场图像后，提取待测物体温度场图像的灰度值后，将其转化为待测物体温度场图像的辐射亮度； 步骤S4，将待测物体温度场图像的辐射亮度转换为待测物体温度场图像的辐射强度； 步骤S5，将待测物体温度场不同波长的光谱辐射强度和待测物体温度场图像的辐射强度进行联立，获得辐射强度方程组； 步骤S6，基于辐射强度方程组，分别获得发射率分布和温度分布； 所述的步骤S5中，所述的辐射强度方程组，具体为： 其中，I为辐射强度，λ为波长，N为光谱波长个数，M为像素点个数，V为图像传感器像素点辐射强度波长累加和，U为光谱仪各波长绝对辐射强度。
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