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龙图腾网获悉成都凌亚科技有限公司申请的专利一种计算处理模块成品监测方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120314320B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510809947.5，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权一种计算处理模块成品监测方法及系统是由冯占军;林永浩设计研发完成，并于2025-06-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种计算处理模块成品监测方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及集成电路板成品检测技术领域，具体而言，涉及一种计算处理模块成品监测方法及系统，通过设于成品传输带上方的线阵激光扫描仪，实时扫描途经成品传输带上的多个计算处理模块成品，进而得到每个计算处理模块成品对应的光谱图样；在光谱图样中标识出多个芯片组件对应的局部光谱图样；依次检测每个局部光谱图样是否存在平面瑕疵，若存在，则评估平面瑕疵的损伤面，并基于损伤面占比评估损伤芯片组件的破损程度。本发明所述的监测方法通过线阵激光扫描仪实时生成表征高度信息的光谱图样，结合RGB颜色阈值与图像特征提取算法，精准识别多个芯片组件的局部区域，有效避免多组件密集排布导致的干扰，提升平面瑕疵检测的定位精度和抗噪能力。

本发明授权一种计算处理模块成品监测方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种计算处理模块成品监测方法，其特征在于，所述方法包括：通过设于成品传输带上方的线阵激光扫描仪，实时扫描途经成品传输带上的多个计算处理模块成品，进而得到每个计算处理模块成品对应的光谱图样，所述光谱图样中的颜色用于表征计算处理模块成品上表面的高度信息，所述计算处理模块成品包括PCB板和多个设于PCB板上的芯片组件；基于预设的多个RGB颜色阈值结合颜色类的图像特征提取算法在光谱图样中标识出多个芯片组件对应的局部光谱图样；依次检测每个局部光谱图样是否存在平面瑕疵，若存在，则评估平面瑕疵的损伤面，并基于损伤面占比评估损伤芯片组件的破损程度；若破损程度低于预设阈值，则测试损伤芯片组件对应的功能参数，并在功能参数均在预设阈值范围内的情况下，判定对应的计算处理模块成品为微瑕产品； 其次，检测每个局部光谱图样是否存在平面瑕疵，若存在，则评估平面瑕疵的损伤面，包括：基于颜色类的图像特征提取算法识别局部光谱图样中的多个非平面纹理特征，并剔除标准非平面纹理特征，进而得到平面瑕疵对应的多个非平面纹理特征，记为瑕疵纹理特征；基于瑕疵纹理特征的几何特征，将多个瑕疵纹理特征分为条形瑕疵纹理特征和块状型瑕疵纹理特征；依次将条形瑕疵纹理特征按照预设水平或垂直单位长度进行分段，得到多个单元条形瑕疵纹理特征，基于单元条形瑕疵纹理特征的两端构建分割直线，进而将单元条形瑕疵纹理特征分割为上凸纹理曲线和或下凸纹理曲线；基于上凸纹理曲线和或下凸纹理曲线的凸出程度计算上凸纹理曲线和或下凸纹理曲线在分割直线法向上的平移量，并基于平移量得到平移修正后的单元条形瑕疵纹理特征；基于平移修正后的单元条形瑕疵纹理特征的最高点和最低点构建单位长度的矩形面，多个单位长度的矩形面构成条形瑕疵纹理特征对应的损伤面，其中矩形面的上边和底边的高度分别对应最高点和最低点。

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