买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉中国科学院上海微系统与信息技术研究所申请的专利全张量磁梯度探头的误差校正方法、系统、设备及介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN120178113B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510298603.2，技术领域涉及：G01R33/022；该发明授权全张量磁梯度探头的误差校正方法、系统、设备及介质是由荣亮亮;刘婷丽;邱隆清;张国峰;伍俊设计研发完成，并于2025-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本全张量磁梯度探头的误差校正方法、系统、设备及介质在说明书摘要公布了：本申请提供一种全张量磁梯度探头的误差校正方法，所述方法包括：获取全张量磁梯度探头的芯片误差数据；所述芯片误差数据包括全张量磁梯度探头的全张量磁梯度和平面梯度计的梯度；所述全张量磁梯度探头设置有至少一所述平面梯度计；各所述平面梯度计设置有所述芯片；根据所述全张量磁梯度和各所述平面梯度计的梯度获取各所述平面梯度计的误差角度；根据各所述平面梯度计的误差角度对所述全张量磁梯度进行芯片角度误差校正，获取校正后的全张量磁梯度。本申请通过全张量磁梯度探头的全张量磁梯度和各平面梯度计的梯度对比的方式，获得各平面梯度计的误差角度，从而完成了全张量磁梯度探头芯片角度误差的校正，提高了全张量磁梯度数据的准确性。

本发明授权全张量磁梯度探头的误差校正方法、系统、设备及介质在权利要求书中公布了：1.一种全张量磁梯度探头的误差校正方法，其特征在于，所述方法包括： 获取全张量磁梯度探头的芯片误差数据；所述芯片误差数据包括全张量磁梯度探头的全张量磁梯度和平面梯度计的梯度；所述全张量磁梯度探头设置有至少一所述平面梯度计；各所述平面梯度计设置有所述芯片； 根据所述全张量磁梯度和各所述平面梯度计的梯度获取各所述平面梯度计的误差角度； 根据各所述平面梯度计的误差角度对所述全张量磁梯度进行芯片角度误差校正，获取校正后的全张量磁梯度； 根据所述全张量磁梯度和各所述平面梯度计的梯度获取各所述平面梯度计的误差角度包括： 根据所述全张量磁梯度和各所述平面梯度计的梯度构建各所述平面梯度计的误差方程；获取各所述平面梯度计的向量参数；所述向量参数包括基线矢量和平面法向量；根据各所述平面梯度计的基线矢量和平面法向量、所述全张量磁梯度和各所述平面梯度计的梯度构建各所述平面梯度计的误差方程； 其中，gij＝[gi1，gi2，gi3]为第i片SQUID平面梯度计输出的梯度值，G1为全张量磁梯度探头的全张量磁梯度，为第i片平面梯度计的下拾取环中心指向上拾取环中心的基线矢量，为第i片平面梯度计的平面法向量，β1i，β2i，β3i分别为第i片平面梯度计的偏移角、倾角和侧翻角，Li为第i片平面梯度计的基线长度； 根据各所述平面梯度计的误差方程利用牛顿迭代法分别进行求解，获取各所述平面梯度计的误差角度；所述误差角度包括倾角、偏移角和或侧翻角。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院上海微系统与信息技术研究所，其通讯地址为：200050 上海市长宁区长宁路865号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。