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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利基于双Zernike像差的自由曲面光学系统设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119644584B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411904431.0，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权基于双Zernike像差的自由曲面光学系统设计方法是由万恺;顾志远设计研发完成，并于2024-12-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于双Zernike像差的自由曲面光学系统设计方法在说明书摘要公布了：本发明属于光学设计技术领域，尤其涉及一种基于双Zernike像差的自由曲面光学系统设计方法。S1：基于视场Zernike多项式和光瞳Zernike多项式将自由曲面光学系统的像差贡献表达式改写为第一双Zernike多项式；S2：在矩形Zernike多项式的视场矢量中引入偏移矢量；S3：利用最小二乘法将对全视场Zernike像差进行处理；S4：构建性能评估模型，并利用性能评估模型解析计算光学初始系统的自由曲面分量，将自由曲面分量代入光学初始系统，完成自由曲面光学系统的设计。本发明获得的自由曲面光学系统具有较好成像质量，以及较小的自由曲面系数。

本发明授权基于双Zernike像差的自由曲面光学系统设计方法在权利要求书中公布了：1.一种基于双Zernike像差的自由曲面光学系统设计方法，其特征在于：具体包括如下步骤： S1：基于Zernike自由曲面的表面方程推导自由曲面光学系统的像差贡献表达式，并基于视场Zernike多项式和光瞳Zernike多项式将自由曲面光学系统的像差贡献表达式改写为第一双Zernike多项式； S2：将第一双Zernike多项式中的视场Zernike多项式替换为矩形Zernike多项式，并在矩形Zernike多项式的视场矢量中引入偏移矢量，获得第二双Zernike多项式； S3：利用光学设计软件的光线追迹算法计算光学初始系统的全视场Zernike像差，并利用最小二乘法将对全视场Zernike像差进行处理，获得光学初始系统的双Zernike像差系数； S4：基于第二双Zernike多项式的像差系数和光学初始系统的双Zernike像差系数构建性能评估模型，并利用性能评估模型解析计算光学初始系统的自由曲面分量，将所述自由曲面分量代入光学初始系统，完成自由曲面光学系统的设计。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国科学院长春光学精密机械与物理研究所，其通讯地址为：130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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