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龙图腾网获悉中国航天标准化研究所申请的专利一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119355480B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411809071.6，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法是由芮二明;田雨;刘超铭;王铭峥;付琬月;刘文宝设计研发完成，并于2024-12-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法，晶体管可靠寿命预测是基于失效物理模型的，与基于数理统计的传统可靠寿命预测方法相比，能够从晶体管微观失效物理入手，更加精准的反映晶体管的敏感参数退化情况，从而提高晶体管可靠寿命预测的精准度；晶体管可靠寿命预测考虑了敏感参数β的初始分布，更加符合晶体管外特性参数的实际情况，并基于此给出了指定可靠度下的寿命预测，对于晶体管的工程应用更加具有指导意义。

本发明授权一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于β值退化的晶体管可靠寿命预测方法，其特征在于，包括： 步骤1，从同一批次晶体管中随机选择多个晶体管作为高温反偏试验的试验对象；从同一批次晶体管中随机选择多个晶体管作为稳态功率试验的试验对象；从同一批次晶体管中随机选择多个晶体管作为初始β值分布试验对象； 步骤2，依据晶体管固有特性和应用特性，设定至少4组不同的高温反偏试验的试验条件；依据晶体管固有特性和应用特性，设定至少4组不同的稳态功率试验的试验条件； 步骤3，按照设定的试验条件，开展晶体管的高温反偏试验和晶体管的稳态功率试验； 步骤4，在试验过程中，对晶体管的β值变化进行监测； 步骤5，试验结束后，绘制不同高温反偏试验条件下晶体管的β值随时间的变化曲线，以及不同稳态功率试验条件下晶体管的β值随时间的变化曲线； 步骤6，确定高温反偏试验条件下，晶体管PN结特性退化的失效物理模型形式，以及稳态功率试验条件下，晶体管热载流子注入的失效物理模型形式； 其中，PN结特性退化的失效物理模型和热载流子注入的失效物理模型是晶体管β值随时间的退化形式；依据多组高温反偏试验条件下β值随时间的变化曲线，求解PN结特性退化的失效物理模型中的系数，确定具体的PN结特性退化失效物理模型形式；依据多组稳态功率试验条件下β值随时间的变化曲线，求解热载流子注入的失效物理模型中的系数，确定具体的热载流子注入失效物理模型形式，具体为： PN结特性退化模型： 热载流子注入失效物理模型： 式1中，在根据不同试验条件下β值随时间的变化曲线，计算失效物理模型中的系数时，以下物理量为已知量：电流增益β、电流增益的初始值β0、集电极基极电压VCB、玻尔兹曼常数k、温度T、时间t；求解的是以下变量：系数A、系数m、系数a以及激活能Ea； 式2中，在根据不同试验条件下β值随时间的变化曲线，计算失效物理模型中的系数时，以下物理量为已知量：电流增益β、电流增益的初始值β0、集电极电流IC、玻尔兹曼常数k、温度T、时间t、求解的是以下变量：系数A、系数n、系数a以及激活能Ea； 步骤7，测试多个晶体管的β值，给出β值初始分布； 步骤8，在指定晶体管工作条件下，分别计算β值初始分布在PN结特性退化的失效物理模型和热载流子注入的失效物理模型下的退化轨迹，结合设定的器件失效阈值βth，给出指定可靠度下晶体管基于PN结特性退化的可靠寿命和基于热载流子注入的可靠寿命，从中选取较短者，即晶体管在上述条件下的可靠寿命。

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