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龙图腾网获悉中科慧远视觉技术(洛阳)有限公司;中科慧远半导体技术(广东)有限公司;中科慧远视觉技术(北京)有限公司申请的专利工件表面的缺陷检测方法和系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119534482B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411725897.4，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权工件表面的缺陷检测方法和系统是由唐超;张武杰设计研发完成，并于2024-11-27向国家知识产权局提交的专利申请。

本工件表面的缺陷检测方法和系统在说明书摘要公布了：本申请涉及一种工件表面的缺陷检测方法和系统。工件表面的缺陷检测方法，包括：在第一支撑结构处于第一预设点位的情况下，确定待检测工件的第一采集部位在图像采集模块中的成像情况符合第一成像条件时，第二支撑结构的第一当前点位；根据第一当前点位计算平面运动路径；在第一支撑结构处于第二预设点位的情况下，确定待检测工件的第二采集部位在图像采集模块中的成像情况符合第二成像条件时，第二支撑结构的第二当前点位；根据第二当前点位计算弧边运动路径；控制图像采集模块拍摄得到多个平面图像和多个弧边图像，以对待检测工件表面进行缺陷检测，生成目标检测结果。本申请提供的方法提高了工件表面缺陷检测的精度。

本发明授权工件表面的缺陷检测方法和系统在权利要求书中公布了：1.一种工件表面的缺陷检测方法，其特征在于，所述方法包括： 在第一支撑结构处于第一预设点位的情况下，确定待检测工件的第一采集部位在图像采集模块中的成像情况符合第一成像条件时，第二支撑结构的第一当前点位；其中，所述待检测工件固定于所述第一支撑结构上，所述图像采集模块固定于所述第二支撑结构上；所述第一成像条件是指工件的平面成像条件； 根据所述第一当前点位计算针对所述待检测工件的平面运动路径，并在所述平面运动路径上确定多个第一拍摄点位； 在所述第一支撑结构处于第二预设点位的情况下，确定所述待检测工件的第二采集部位在所述图像采集模块中的成像情况符合第二成像条件时，所述第二支撑结构的第二当前点位；其中，所述第二成像条件是指工件的弧面成像条件； 根据所述第二当前点位计算针对所述待检测工件的弧边运动路径，并在所述弧边运动路径上确定多个第二拍摄点位； 控制所述图像采集模块在所述第二支撑结构处于每个第一拍摄点位时，拍摄得到多个平面图像，以及控制所述图像采集模块在所述第二支撑结构处于每个第二拍摄点位时，拍摄得到多个弧边图像； 根据所述多个平面图像和所述多个弧边图像对所述待检测工件表面进行缺陷检测，生成目标检测结果。

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