清华大学程雪岷获国家专利权
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龙图腾网获悉清华大学申请的专利基于圆台几何约束及负反馈调控的像质分析方法和装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119355958B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411706504.5，技术领域涉及：G02B27/00；该发明授权基于圆台几何约束及负反馈调控的像质分析方法和装置是由程雪岷;沈佳慧;谭峭峰设计研发完成，并于2024-11-26向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于圆台几何约束及负反馈调控的像质分析方法和装置在说明书摘要公布了：本发明提供了一种基于圆台几何约束及负反馈调控的像质分析方法和装置，方法包括：步骤S1：获取多重共轭折反式变焦系统的垂轴色差、轴向色差和波色差；步骤S2：求解多重共轭折反式变焦系统受波长调制后的波像差；步骤S3：根据波像差确定特征像差节点位置并计算中心视场附近的RMS光斑直径大小；步骤S4：使用圆台几何约束，以垂轴色差和轴向色差校正方式，将材料阿贝数作为变量，对特征像差节点位置进行负反馈调控以抑制色差影响，并综合分析多重共轭折反式变焦系统的成像质量。本发明适用于多重共轭折反式变焦系统的像质综合分析，尤其在通过形变器件实现高性能变焦功能和较宽光谱成像的折反式变焦光学系统中具有广泛应用前景。
本发明授权基于圆台几何约束及负反馈调控的像质分析方法和装置在权利要求书中公布了：1.一种基于圆台几何约束及负反馈调控的像质分析方法，其特征在于，所述方法包括： 步骤S1：获取多重共轭折反式变焦系统的垂轴色差、轴向色差和波色差； 步骤S2：求解在焦距和波长多重共轭条件下的所述多重共轭折反式变焦系统受波长调制后的波像差； 步骤S3：根据所述波像差确定所述多重共轭折反式变焦系统的特征像差节点位置并计算中心视场设定范围内的RMS光斑直径大小； 步骤S4：使用圆台几何约束，以所述垂轴色差和所述轴向色差校正方式，将材料阿贝数作为变量，对所述特征像差节点位置进行负反馈调控以抑制色差影响，并综合分析全焦段全波段范围内所述多重共轭折反式变焦系统的成像质量。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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