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龙图腾网获悉中国科学院国家空间科学中心申请的专利一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119620150B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411686011.X，技术领域涉及：G01T1/36；该发明授权一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统是由侯东辉;张珅毅;沈国红;张贤国;孙越强;袁斌;张焕新;权子达设计研发完成，并于2024-11-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统在说明书摘要公布了：本申请公开了一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统，以实现采用较少的探测设备，一次性反演电子和质子能谱的目的。探测器为单探测器，探测器同时探测电子和质子，该方法包括：基于探测器，生成第一反演模型；其中，第一反演模型包括局部松驰系数和双正则系数，双正则系数包括对应电子的第一正则化系数和对应质子的第二正则化系数；预设局部松驰系数的局部松驰系数集合和双正则系数的双正则系数集合，基于局部松驰系数集合和双正则系数集合，采用基于双正则系数的Boosted‑Gold算法对第一反演模型进行迭代计算，记录符合预设收敛条件的能谱范数和残差范数；基于谱范数和残差范数生成L曲线，将L曲线的拐点作为反演最佳解。

本发明授权一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种基于双正则系数的粒子能谱反演方法，其中探测器为单探测器，所述探测器同时探测电子和质子，其特征在于，包括： 基于所述探测器，生成第一反演模型；其中，所述第一反演模型包括局部松驰系数和双正则系数，所述双正则系数包括对应电子的第一正则化系数和对应质子的第二正则化系数；生成所述第一反演模型，包括：获取所述探测器的电子响应函数和质子响应函数；基于所述电子响应函数和所述质子响应函数，确定响应矩阵；基于所述响应矩阵和所述探测器的探测值，确定基础反演模型；基于所述基础反演模型进行变换，生成所述第一反演模型；确定所述第一反演模型的预设初步解；所述响应矩阵，公式如下： ，（1） 其中，为测量能档总数，为电子入射能档总数，为质子入射能档总数；为电子在通道的响应函数，为质子在通道的响应函数；为测量能档的编号，为入射能档的编号，取值1至的自然数，取值1至的自然数； 所述基础反演模型，公式如下： （2） 其中，为所述响应矩阵，为电子能谱或质子能谱，为测量误差，为测量值； 所述第一反演模型，公式如下： （3） 其中，AT为A的反置矩阵；μ为所述局部松驰系数，用于调整解的更新幅度，各元素为；为所述第一正则化系数，为所述第二正则化系数；为粒子能谱，为电子能谱，为质子能谱； 预设所述局部松驰系数的局部松驰系数集合和所述双正则系数的双正则系数集合，基于所述局部松驰系数集合和所述双正则系数集合，采用基于双正则系数的Boosted-Gold算法对所述第一反演模型进行迭代计算，记录符合预设收敛条件的能谱范数和残差范数； 基于所述谱范数和所述残差范数生成L曲线，将所述L曲线的拐点作为反演最佳解。

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