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龙图腾网获悉深圳爱彼电路股份有限公司申请的专利PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119379662B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411652034.9，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质是由周达广;覃宁;陈莎;何运炎设计研发完成，并于2024-11-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及图像处理技术领域，公开了一种PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，所述方法包括获取PCB电路板图像数据；将所述PCB电路板图像数据输入到预先训练完成的多光源同步成像模型，得到多光源融合图像；对所述多光源融合图像进行图像优化处理，得到降噪灰度图像；根据所述降噪灰度图像，进行区域划分和特征提取操作，得到各区域特征；将所述各区域特征输入到预先训练完成的多尺度动态缺陷检测模型，得到PCB缺陷检测情况。本方法具有以下效果：通过多光源同步成像模型的应用，有效减少了单一光源成像条件下的阴影、反光等影响，提高了图像的清晰度和细节呈现，提升了检测系统的环境适应性和检测精度。

本发明授权PCB电路板缺陷检测方法、装置、设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种PCB电路板缺陷检测方法，其特征在于，包括： 获取PCB电路板图像数据； 将所述PCB电路板图像数据输入到预先训练完成的多光源同步成像模型，得到多光源融合图像； 对所述多光源融合图像进行图像优化处理，得到降噪灰度图像； 根据所述降噪灰度图像，进行区域划分和特征提取操作，得到各区域特征； 将所述各区域特征输入到预先训练完成的多尺度动态缺陷检测模型，得到PCB缺陷检测情况； 其中，所述将所述PCB电路板图像数据输入到预先训练完成的多光源同步成像模型，得到多光源融合图像，包括： 根据所述PCB电路板图像数据进行光源标定与强度校准操作，得到多光源强度调整参数； 根据所述多光源强度调整参数，对所述PCB电路板图像数据进行光源调整操作，得到多光源下成像数据； 其中，所述根据所述PCB电路板图像数据进行光源标定与强度校准操作，得到多光源强度调整参数，包括： 通过以下公式得到各像素光强值： 其中是像素位置处的光强值，是各光源的初始强度，是光强衰减系数，是第个光源到像素位置的距离， 其中为第i个光源在横坐标上的位置，为第i个光源在纵坐标上的位置，为第i个光源在深度方向上的位置； 通过以下公式得到各像素点的多光源强度调整参数： 其中表示第个像素点的多光源强度调整参数，是预设的均匀光强值,是像素位置像素的亮度值，是光源的初始强度，是衰减系数，是从像素到第个光源的距离，是所有N个光源在像素位置上的总光强值。

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