中山大学薛超获国家专利权
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龙图腾网获悉中山大学申请的专利一种锁紧释放机构在轨释放检验质量的空间测试装置和方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119527587B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202411644392.5,技术领域涉及:B64G7/00;该发明授权一种锁紧释放机构在轨释放检验质量的空间测试装置和方法是由薛超;张惠森;钟泱;施迪文设计研发完成,并于2024-11-18向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种锁紧释放机构在轨释放检验质量的空间测试装置和方法在说明书摘要公布了:本发明涉及精密测量技术领域,公开了一种锁紧释放机构在轨释放检验质量的空间测试装置,包括真空系统、传感系统和锁紧释放机构,通过设置真空腔体,将锁紧释放机构和检验质量均放置在真空腔体内,用于模拟在轨释放环境,并且检验质量置于传感系统的安装壳体内,安装壳体设有通孔,锁紧释放机构穿过通孔可与检验质量接触,安装壳体上设置若干传感器,可用于检测检验质量多个自由度的位姿速度,对检验质量在轨释放的位姿信息具有全面检测,提高验证性能。本发明还提供一种应用上述装置的空间测试方法,在微重力、真空环境下测试锁紧释放机构。
本发明授权一种锁紧释放机构在轨释放检验质量的空间测试装置和方法在权利要求书中公布了:1.一种锁紧释放机构在轨释放检验质量的空间测试装置,其特征在于,包括真空系统(100)、传感系统(200)和锁紧释放机构(300),所述真空系统(100)包括真空腔体(110),所述传感系统(200)和所述锁紧释放机构(300)位于所述真空腔体(110)内,所述锁紧释放机构(300)包括两个锁紧释放单元,所述传感系统(200)位于两个所述锁紧释放单元之间,所述传感系统(200)包括安装壳体(210)和若干检测单元,所述检测单元包括若干传感器,检验质量(400)位于所述安装壳体(210)中,所述安装壳体(210)相对的两侧均设有通孔(211),所述通孔(211)用于所述锁紧释放单元伸入所述安装壳体(210)内以接触所述检验质量(400),所述传感器安装在所述安装壳体(210)上,所述传感器用于检测所述检验质量(400)的位姿; 所述传感系统(200)包括两个或两个以上的检测单元,所述检测单元均包括轴向传感器和径向传感器,所述轴向传感器和所述径向传感器均安装在所述安装壳体(210)上,所述轴向传感器用于检测所述检验质量(400)的轴向位移,所述径向传感器用于检测所述检验质量(400)的径向位移; 所述检测单元包括五个轴向传感器和一个径向传感器,分别为第一轴向传感器(240)、第二轴向传感器(250)、第三轴向传感器(260)、第四轴向传感器(270)、第五轴向传感器(280)和第一径向传感器(290),所述第一轴向传感器(240)、第二轴向传感器(250)、第三轴向传感器(260)设于所述安装壳体(210)的第一侧面(212)上,所述第四轴向传感器(270)、第五轴向传感器(280)和第一径向传感器(290)设于所述安装壳体(210)的第二侧面(213)上,所述第一侧面(212)与所述第二侧面(213)相邻。
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