买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网获悉哈尔滨工业大学申请的专利考虑热应力水平相互作用的电解电容器退化累积模型建立方法、退化预测方法及设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119514211B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411636146.5，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权考虑热应力水平相互作用的电解电容器退化累积模型建立方法、退化预测方法及设备是由叶雪荣;孙祺森;高君鹏;陈岑;高晓颖;郑伟;冯明涛设计研发完成，并于2024-11-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本考虑热应力水平相互作用的电解电容器退化累积模型建立方法、退化预测方法及设备在说明书摘要公布了：考虑热应力水平相互作用的电解电容器退化累积模型建立方法、退化预测方法及设备，属于电子元器件可靠性技术领域。为了解决现有的电解电容器退化模型对电解电容器退化进行预测存在预测结果偏差较大的问题，本发明首先开展恒定热应力退化试验，建立恒定热应力下电容器参数的退化模型，然后开展两阶段恒定热应力退化试验，并根据试验数据估计路径调整因子，根据路径调整因子建立路径调整因子数学模型，确定退化累积模型形式，进而建立路径调整因子数学模型，并确定退化累积模型形式，根据退化累积模型形式进行预测。本发明用于电解电容器退化预测。

本发明授权考虑热应力水平相互作用的电解电容器退化累积模型建立方法、退化预测方法及设备在权利要求书中公布了：1.考虑热应力水平相互作用的电解电容器退化累积模型建立方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤S1、开展恒定热应力退化试验，建立恒定热应力下电容器参数的退化模型： 开展n组恒定热应力退化试验；每组应力设置中电压值相同，电容器内核温度值不同，分别记为T1,T2,…,Tn；设计试验时长和测试频率，以内核温度T、时间t为输入，电容器参数为输出，建立电压V下的电容器参数退化模型： Xt＝AV,T·tB+X01 其中，Xt为电解电容器容值或等效串联电阻在t时刻的值；AV,T为以电解电容器电压V和内核温度T为输入的用于描述电容器参数退化影响的函数；B为模型系数；X0为电解电容器容值或等效串联电阻退化前初值； 步骤S2、开展两阶段恒定热应力退化试验： 设置电压值为V，选定两阶段热应力水平TS1和TS2；设置m1组先施加TS1再施加TS2的试验组，设置m2组先施加TS2再施加TS1的试验组； 设置两阶段热应力的施加时间；相同热应力施加顺序的试验组中，两阶段热应力施加时间应不同；基于两阶段热应力的施加时间开展两阶段恒定热应力退化试验； 步骤S3、根据步骤S2得到的试验数据，估计路径调整因子： 步骤S31、计算两阶段恒定热应力退化试验中第一阶段结束时刻各组内试验样本退化的平均退化量Xi，i表示第i组两阶段恒定热应力退化试验； 步骤S32、设置α初始值； 步骤S33、设置最大迭代计算次数与均方根误差RMSE的值； 步骤S34、基于第i组第二阶段热应力水平，根据Xi与下式，计算对应Xi退化量的时刻ti； Xt＝α·AV,T·tB+X03 步骤S35、以ti为起点，根据第i组试验测试间隔，调整第i组第二阶段数据时间坐标； 步骤S36、使用曲线拟合或优化算法得到使式3与第i组第二阶段样本平均退化数据相比RMSE最小的α值； S37、重复步骤S34到S36，直到达到步骤S33中设置的最大迭代次数或满足RMSE标准，最终得到所有m1+m2组两阶段恒定热应力退化试验的路径调整因子α； 步骤S4、根据步骤S3得到的路径调整因子，建立路径调整因子数学模型，并确定退化累积模型形式； 所述退化累积模型为以下形式： 其中，j表示第j个阶段； 通过路径调整影子α描述热应力水平变化后，退化的加速、退化的减速、退化速率不变的情况，路径调整因子α以相乘形式作用于AV,T，以引入热应力水平相互作用对退化速率的影响；建立的路径调整因子数学模型如下： 式中，a,b,c为拟合系数；T前一阶段为两阶段恒定热应力退化试验第一阶段电容器内核温度；T当前阶段为两阶段恒定热应力退化试验第二阶段电容器内核温度；t前一阶段为两阶段恒定热应力退化试验第一阶段施加时间。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人哈尔滨工业大学，其通讯地址为：150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

以上内容由龙图腾AI智能生成。