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龙图腾网获悉北京航空航天大学;合肥国家实验室申请的专利原子自旋惯性测量装置刻度系数和电子弛豫率测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119595009B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411629546.3，技术领域涉及：G01C25/00；该发明授权原子自旋惯性测量装置刻度系数和电子弛豫率测量方法是由魏凯;龚定辉;衡星;王帆;郑洁;汪睿;全伟设计研发完成，并于2024-11-14向国家知识产权局提交的专利申请。

本原子自旋惯性测量装置刻度系数和电子弛豫率测量方法在说明书摘要公布了：原子自旋惯性测量装置刻度系数和电子弛豫率测量方法，所述刻度系数指角速度刻度系数，通过测量输出信号关于Z向磁场的一阶近似和二阶近似，根据一阶近似和二阶近似与Y向磁场和X磁场之间的线性关系，两者斜率与刻度系数和电子弛豫率存在关系，计算出刻度系数和电子弛豫率。本发明方法合理，实验操作简单，适用于基于碱金属电子自旋与惰性气体核自旋耦合系综的原子自旋惯性测量装置，能够实时准确测量刻度系数和电子弛豫率，为高精度原子自旋惯性测量装置的研制提供了基础。

本发明授权原子自旋惯性测量装置刻度系数和电子弛豫率测量方法在权利要求书中公布了：1.原子自旋惯性测量装置刻度系数和电子弛豫率测量方法，其特征在于，包括以下步骤： 步骤1，利用原子自旋惯性测量装置测量Z向最快响应点对应磁场Bn； 步骤2，确定需要遍历的Y向磁场数组[By1,By2,…,Byn]，n是序号数，n是正整数，Byn是第n个Y向磁场； 步骤3，开始遍历[By1,By2,…,Byn]，令By＝Byi，i为第一计数器，By是Y向磁场； 步骤4，在补偿点处施加Z向磁场方波调制，使原子自旋惯性测量装置输出稳态响应信号S1y和S2y，S1y为高电平稳态响应信号，S2y为低电平稳态响应信号，获取输出信号关于Z向磁场的一阶近似dS； 步骤5，判断是否i≥n，如果否，则令i＝i+1后返回步骤3，如果是，则进入步骤6； 步骤6，确定需要遍历的X向磁场数组[Bx1,Bx2,…,Bxm]，m是序号数，m是正整数，Bxm是第m个X向磁场； 步骤7，开始遍历[Bx1,Bx1,…,Bxm]，令Bx＝Bxj，j为第二计数器，Bx是X向磁场； 步骤8，在补偿点处施加Z向磁场方波及直流调制，使原子自旋惯性测量装置输出稳态响应信号S1x、S2x和S0x，S1x为高电平稳态响应信号，S2x为低电平稳态响应信号，S0x为直流偏置稳态响应信号，获取输出信号关于Z向磁场的二阶近似ddS； 步骤9，判断是否j≥m，如果否，则令j＝j+1后返回步骤7，如果是，则进入步骤10； 步骤10，计算刻度系数和电子弛豫率； 步骤10中包括以下公式： 其中K是刻度系数，所述刻度系数指角速度刻度系数，γn为惰性气体原子的旋磁比，Re是电子弛豫率，γe为碱金属电子的旋磁比，为单位Z向方波调制得到的一阶近似dS与随Y向磁场By变化的斜率，是单位Z向方波及直流偏置得到的输出信号的二阶近似ddS随X向磁场Bx变化的斜率。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人北京航空航天大学;合肥国家实验室，其通讯地址为：100191 北京市海淀区学院路37号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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