西安交通大学吴坚获国家专利权
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龙图腾网获悉西安交通大学申请的专利基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119155874B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411532365.9，技术领域涉及：H05H1/00；该发明授权基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法是由吴坚;赵一鸣;王威;姜志远;王振宇;卢元博设计研发完成，并于2024-10-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法在说明书摘要公布了：本发明属于等离子体电子密度测量领域，公开了一种基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法，本装置采用倍频晶体将基频激光束变换为同轴的基频光束和二次谐波光束，两个同轴的激光束在通过等离子体会产生不同的波前变化并通过微透镜阵列转化为焦点光斑质心位移的变化；本装置不同于其他测量方式需要设置探测光和参考光，也无需有无等离子体前后的对比，只需要参考同轴的两束不同波长的激光光束经过等离子体后焦点光斑质心的变化差别即可；采用本测量装置能够消除实验过程中中性粒子的干扰并排除有无等离子体两发实验中激光的差别，可以实现同步的补偿，有效解决了现有技术中设置的参考光路易受到环境影响，从而导致测量精度受限的问题。
本发明授权基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法在权利要求书中公布了：1.一种基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置，其特征在于，包括： 脉冲激光器（1）、分束镜（3）、第一反射镜（4）、准直系统、第二反射镜（10）、第三反射镜（12）、二向色镜（13）、第一微透镜阵列（14）、第一相机（15）、第二微透镜阵列（16）和第二相机（17）； 其中，脉冲激光器（1）发出的脉冲激光束（2）经分束镜（3）入射至第一反射镜（4）； 准直系统中设置有倍频晶体（7）；穿过第一反射镜（4）的脉冲激光束（2）进入准直系统内部的倍频晶体（7）后射出，经第二反射镜（10）入射至等离子体（11）；经过等离子体（11）的激光通过第三反射镜（12）和二向色镜（13）后分光，基频光束入射第一透镜阵列（14）与第一相机（15），二次谐波光束入射第二透镜阵列（16）与第二相机（17）。
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