中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所陈晶晶获国家专利权
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龙图腾网获悉中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所申请的专利基于球差电镜的样品位错快速定位方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119044222B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411372863.1，技术领域涉及：G01N23/20；该发明授权基于球差电镜的样品位错快速定位方法是由陈晶晶;苏旭军;王鲁华;徐科设计研发完成，并于2024-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于球差电镜的样品位错快速定位方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于球差电镜的样品位错快速定位方法，利用积分差分对比衬度像来快速定位样品中的不同类型位错，并在高角度环形暗场像中获取位错的核心原子像，定位精准，对操作人员的主观判断依赖较弱，省时省力。
本发明授权基于球差电镜的样品位错快速定位方法在权利要求书中公布了：1.一种基于球差电镜的样品位错快速定位方法，其特征在于，包括： 在扫描透射模式下，确定样品待拍摄区域，并进行标定； 在第一条件下，调节球差电镜中探测器的成像衬度和对比度，并重新对准样品待拍摄区域，所述第一条件为在扫描透射模式下的积分差分相位衬度成像模式； 在第二条件下且在低倍数条件下，同时采集样品待拍摄区域的高角度环形暗场像和积分差分对比衬度像，利用位错在积分差分对比衬度像中的对比度差异进行位错在高角度环形暗场像中的快速定位，所述第二条件为在扫描透射模式下的积分差分相位衬度和高角度环形暗场同时成像模式； 在高倍数条件下，获取位错在高角度环形暗场像中的核心原子像。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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