合肥工业大学周雷鸣获国家专利权
买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！
龙图腾网获悉合肥工业大学申请的专利一种基于共聚焦光路后焦面图像的微球颗粒位置检测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118961551B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411157149.0，技术领域涉及：G01N15/1434；该发明授权一种基于共聚焦光路后焦面图像的微球颗粒位置检测方法是由周雷鸣;熊宁珺;陶宗强;孙婉;黄禅;胡继刚设计研发完成，并于2024-08-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于共聚焦光路后焦面图像的微球颗粒位置检测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于共聚焦光路后焦面图像的微球颗粒位置检测方法，是将干涉式位置检测装置与人工神经网络相结合，基于相机对共聚焦光路后焦面干涉图样的采集，通过训练好的人工神经网络来输出微球颗粒的位置数据。与基于后焦面四象限探测器探测微球颗粒位置的方法不同，本发明无非线性区间，位置检测范围大；与显微拍照式位置探测方法不同，本发明能够同时对微球颗粒位置进行三维方向上的更精确检测。
本发明授权一种基于共聚焦光路后焦面图像的微球颗粒位置检测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于共聚焦光路后焦面图像的微球颗粒位置检测方法，其特征是，包括以下步骤： 步骤一，构建共聚焦光路并采集干涉图样； 入射激光束通过物镜聚焦后，照射在位于焦点附近的微球颗粒上，入射激光束中经微球颗粒散射的部分与未经微球颗粒散射的部分由聚光镜收集后，在聚光镜的后焦面位置附近干涉，由相机在聚光镜的后焦面或后焦面的共轭平面上采集干涉图样； 步骤二，获得干涉图样及其对应的微球颗粒位置的数据集，并对数据集进行预处理； 步骤2.1，基于微球颗粒的半径、微球颗粒的折射率、入射激光束的真空波长和物镜的参数，对共聚焦光路进行电磁场散射模拟计算，获得微球颗粒在焦点附近不同位置时，聚光镜的后焦面所对应的干涉图样； 步骤2.2，将微球颗粒的位置数据作为相应采集到的干涉图样的标签，并对微球颗粒在不同位置所采集到的干涉图样进行预处理，从而由预处理后的干涉图样及其标签构成数据集； 步骤三，构建神经网络，并用数据集对进行训练，得到训练后的微球颗粒位置检测模型； 步骤四，利用训练后的微球颗粒位置检测模型对所述共聚焦光路中任意获取的干涉图样进行检测，得到微球颗粒在焦点附近所对应的位置。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人合肥工业大学，其通讯地址为：230009 安徽省合肥市包河区屯溪路193号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
以上内容由龙图腾AI智能生成。
免责声明
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
开放平台
担保交易
惠及多方
会员特惠
专属平台
适合多方
数据共享
功能齐全
皖公网安备 34010402703815号
请提出您的宝贵建议，有机会获取IP积分或其他奖励