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龙图腾网获悉苏州华兴源创科技股份有限公司申请的专利显示设备缺陷检测方法、检测系统及检测装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118533863B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202411009192.2，技术领域涉及：G01N21/95；该发明授权显示设备缺陷检测方法、检测系统及检测装置是由魏巍;王刚设计研发完成，并于2024-07-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本显示设备缺陷检测方法、检测系统及检测装置在说明书摘要公布了：本申请提供了一种显示设备缺陷检测方法、检测系统及检测装置，涉及显示技术领域，在该检测方法采用检测波束对显示设备进行检测，检测波束扫描是非接触式检测，避免了显示设备检测时因为探针接触而导致的发光单元损坏的问题，并且控制该检测波束对发光单元区沿设定轨迹或设定图样进行扫描，可以让发光单元接收到的检测波束更均匀，此时获取检测波束扫描时发光单元的状态，并根据发光单元的状态确定显示设备的缺陷点，可以增加显示设备的缺陷点的检测精度，减少误差率。

本发明授权显示设备缺陷检测方法、检测系统及检测装置在权利要求书中公布了：1.一种显示设备缺陷检测方法，其特征在于，所述显示设备包括基板及位于所述基板上的发光单元，所述检测方法包括： 发射检测波束； 获取发光单元区的位置信息并精确定位所述检测波束的扫描位置，所述发光单元区包括单个所述发光单元或多个阵列排布的所述发光单元； 控制偏转所述检测波束按照所述扫描位置对若干个所述发光单元区进行扫描以点亮所述发光单元； 拍摄所述检测波束扫描时所述发光单元的发光状态； 基于所述发光单元的状态确定所述显示设备的缺陷点； 其中，所述检测波束的扫描形式包括沿设定轨迹进行扫描或按设定图样进行定点扫描； 扫描检测图像的任一帧内包括多个子帧，控制所述检测波束对若干个所述发光单元区进行扫描，还包括： 在第一子帧，控制所述检测波束对预设区域中的所述发光单元区进行扫描； 在第二子帧，控制所述检测波束对预设位置点的所述发光单元区进行扫描；所述预设位置点为在所述第一子帧中初步定位的所述缺陷点； 在第三子帧，控制修复波束对所述缺陷点的所述发光单元区进行在线修复，所述发光单元包括一组正常发光控制单元和至少一组备用发光控制单元，当检测到缺陷点的发光单元时，所述修复波束切断存在缺陷或异常的所述正常发光控制单元的连接，并启用一组备用的发光控制单元，实现正常显示； 在第四子帧，控制所述检测波束对所述预设区域中的所述发光单元区进行扫描完成复检， 所述检测波束为单一电子束，所述单一电子束覆盖单个发光单元，所述单一电子束的强度、尺寸和方向根据所述发光单元的位置、类型确定。

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