中国地质大学(武汉)刘力获国家专利权
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龙图腾网获悉中国地质大学(武汉)申请的专利一种一维光子晶体跑道微环的温度折射率双参量传感器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118706188B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410994550.3，技术领域涉及：G01D21/02；该发明授权一种一维光子晶体跑道微环的温度折射率双参量传感器是由刘力;蒋向荣设计研发完成，并于2024-07-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种一维光子晶体跑道微环的温度折射率双参量传感器在说明书摘要公布了：本发明提供一种一维光子晶体跑道微环的温度折射率双参量传感器，包括：总线波导和一维光子晶体跑道微环，其中，所述总线波导呈直线型设于所述一维光子晶体跑道微环的一侧，所述总线波导与所述一维光子晶体跑道微环耦合；所述一维光子晶体跑道微环包括包括跑道结构，所述跑道结构与所述总线波导之间形成光子禁带。本发明利用慢光效应，在一维光子晶体跑道微环的光子禁带边缘产生自由光谱范围不等的谐振峰，由于温度对有效折射率的影响与待测物质对有效折射率的影响会体现在不同的谐振峰上，因此，通过记录此处各谐振峰位置的相对变化，即可计算出待测物质的温度与折射率信息，提高了检测效率和检测精度。
本发明授权一种一维光子晶体跑道微环的温度折射率双参量传感器在权利要求书中公布了：1.一种一维光子晶体跑道微环的温度折射率双参量传感器，其特征在于，包括：总线波导和一维光子晶体跑道微环，其中， 在一维光子晶体跑道微环的光子禁带边缘产生自由光谱范围不等的谐振峰，由于温度对有效折射率的影响与待测物质对有效折射率的影响会体现在不同的谐振峰上，因此，通过记录此处各谐振峰位置的相对变化，即可计算出待测物质的温度与折射率信息， 所述总线波导呈直线型设于所述一维光子晶体跑道微环的一侧，所述总线波导与所述一维光子晶体跑道微环耦合； 所述一维光子晶体跑道微环包括跑道结构，所述跑道结构与所述总线波导之间形成光子禁带。
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