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龙图腾网获悉厦门大学申请的专利一种非扫查式大面积缺陷检测与缺陷位置及参数反演方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118883706B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410991922.7，技术领域涉及：G01N27/90；该发明授权一种非扫查式大面积缺陷检测与缺陷位置及参数反演方法是由曾志伟;郭琪设计研发完成，并于2024-07-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种非扫查式大面积缺陷检测与缺陷位置及参数反演方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种非扫查式大面积缺陷检测与缺陷位置及参数反演方法。其中，所述方法包括：提供若干含屏蔽装置的阵元线圈，将该若干含屏蔽装置的阵元线圈排列于待检测表面；通过分时激励的方式控制任一阵元线圈激励产生电压信号，令该阵元线圈相邻的阵元线圈采集远场涡流信号；依次激励阵元线圈并重复检测过程，直至待测面检测结束；基于采集的不同接收线圈的输出信号或该输出信号与无缺陷参考试块上接收线圈输出信号的差分信号检测缺陷；若存在缺陷，将输出信号或差分信号与预建立的不同接收线圈输出信号或差分信号与缺陷位置参数关系数据库比对，对缺陷进行定位和定量检测。本发明通过在传统的阵列涡流检测中激发远场涡流效应，减少了阵元线圈的数量，实现在线、高效、非扫查的大面积金属平板的缺陷检测与缺陷的位置及参数的准确反演。

本发明授权一种非扫查式大面积缺陷检测与缺陷位置及参数反演方法在权利要求书中公布了：1.一种非扫查式大面积缺陷检测与缺陷位置及参数反演方法，其特征在于，包括： 提供若干含屏蔽装置的阵元线圈，该若干含屏蔽装置的阵元线圈排列于待检测表面； 通过分时激励的方式控制阵元线圈按顺序产生激励电压信号，令该阵元线圈相邻的阵元线圈采集远场涡流信号； 依次激励阵元线圈并重复检测过程，直至检测结束； 基于采集的不同接收线圈的输出信号或该输出信号与无缺陷参考试块上接收线圈输出信号的差分信号检测缺陷，具体地： 根据接收线圈远场涡流信号的幅值或相位检测缺陷，或者将有缺陷时的接收线圈远场涡流信号减去无缺陷时的接收线圈远场涡流信号得到差分输出信号，根据差分输出信号的幅值或相位检测缺陷；若存在缺陷，将输出信号或差分信号与预建立的不同接收线圈输出信号或差分信号与缺陷位置参数关系数据库比对，对缺陷进行定位和定量检测，其中，建立不同接收线圈输出信号或差分信号与缺陷位置参数关系数据库的方式具体为：通过仿真计算不同接收线圈的远场涡流信号，改变缺陷的位置参数，重复仿真过程，建立不同接收线圈的远场涡流信号与缺陷位置参数关系的基础数据库；或者，制作多块含不同位置或参数缺陷的试块，通过实验建立不同接收线圈的远场涡流信号与缺陷位置参数关系的基础数据库； 对缺陷进行定位和定量检测时，若数据库由仿真得到，则还包括：将无缺陷时实验得到的阵列远场涡流信号的数值与仿真得到的数值相除，得到转换比k；将实测的阵列远场涡流信号减去无缺陷状态下的远场涡流信号，并基于转换比k将实测阵列远场涡流信号转换成仿真结果量级；将转换后的远场涡流信号在扩展数据库中进行比对，得到缺陷的位置参数。

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