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龙图腾网获悉上海合见工业软件集团有限公司;成都融见软件科技有限公司申请的专利一种错误注入的方法、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118886392B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410900315.5，技术领域涉及：G06F30/398；该发明授权一种错误注入的方法、电子设备及存储介质是由张驰;郭晨光设计研发完成，并于2024-07-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种错误注入的方法、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片验证技术领域，特别是涉及一种错误注入的方法、电子设备及存储介质，其通过对每个目标模型进行初始化，包括：目标模型获取所述错误注入模型的模型实例；目标模型通过模型实例向所述错误注入模型注册目标模型自身的所有硬件错误类型；所述激励端将注册的所有硬件错误类型中的部分或者全部硬件错误类型注入所述错误注入模型中并进行保存；当对目标模型进行仿真或者测试的过程中，运行到错误发生点时，读取所述错误注入模型中保存的硬件错误类型，当读取成功时确定发生了对应的硬件错误；否则，未发生对应的硬件错误。达到了模拟真实错误，确保目标模型功能的完整性的目的。

本发明授权一种错误注入的方法、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种错误注入方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤： S100，获取激励端和模型端，所述模型端包括错误注入模型和N个目标模型的集合LTset；其中，错误注入模型中包括注册错误接口registerError和获取错误接口getError；LTset中第i个目标模型LTi为芯片的功能模型，LTi包括预设的M个硬件错误类型的集合ErrTypeSeti，其中第q个硬件错误类型为ErrTypei,q；ErrTypei,q在LTi中预设K个错误发生点的集合ErrOccSeti,q，其中，N、M和K分别大于等于1，i的取值范围为1到N，q的取值范围为1到M； S200，对每个目标模型进行初始化，其中，LTi的初始化步骤包括： S210，LTi获取所述错误注入模型的模型实例inst； S220，LTi通过inst的registerError向所述错误注入模型注册ErrTypeSeti； S300，对每个目标模型进行错误注入，其中，LTi的错误注入步骤包括：所述激励端将ErrTypeSeti中的M1个硬件错误类型注入所述错误注入模型并保存为LTi的错误集合LTi_subErrSet，其中，LTi_subErrSet为ErrTypeSeti的子集，0≤M1≤M； S400，当对LTi进行仿真或者测试的过程中，运行到ErrOccSeti,q中的错误发生点时，根据ErrTypei,q自动调用getError；getError通过inst读取所述错误注入模型中保存的LTi_subErrSet，当ErrTypei,q与LTi_subErrSet中的硬件错误匹配成功时，确定发生了ErrTypei,q的错误；否则，ErrTypei,q的错误未发生。

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