华南理工大学薛炳辉获国家专利权
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龙图腾网获悉华南理工大学申请的专利一种基于去偏振动态光散射及各向异性示踪粒子的微流变表征方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118730817B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410856304.1,技术领域涉及:G01N11/00;该发明授权一种基于去偏振动态光散射及各向异性示踪粒子的微流变表征方法是由薛炳辉;刘媛;殷盼超设计研发完成,并于2024-06-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于去偏振动态光散射及各向异性示踪粒子的微流变表征方法在说明书摘要公布了:本发明属于微流变表征方法的技术领域,公开了一种基于去偏振动态光散射及各向异性示踪粒子的微流变表征方法。所述微流变表征方法:将各向异性示踪粒子分散于样品或样品溶液中,采用去偏振动态光散射在两个不同散射角度下对样品进行检测即进行微流变的测试,获得光强自相关方程并转换为电场自相关方程,从而得到微流变的流变曲线。本发明的方法简单,所得到的流变曲线在超宽频率范围内均具有较高的精度,尤其是对于高频区域具有优异的表征能力,有效填补了传统机械流变的频率空缺;同时由于其特异性检测示踪粒子的去偏振信号,其对于浑浊体系亦有很高的检测精度。本发明的表征方法应用于澄清或浑浊体系的宽频域微流变测试。
本发明授权一种基于去偏振动态光散射及各向异性示踪粒子的微流变表征方法在权利要求书中公布了:1.一种基于去偏振动态光散射和各向异性示踪粒子的微流变表征方法,其特征在于:包括以下步骤:将各向异性示踪粒子分散于样品或样品溶液中,采用去偏振动态光散射在两个不同散射角度下对样品进行检测即进行微流变的测试,获得光强自相关方程并转换为电场自相关方程,从而得到微流变的流变曲线; 所述各向异性示踪粒子为金纳米棒; 所述样品为软物质,高分子溶液; 所述去偏振动态光散射中选用至少100000:1消光比的偏振片,消光比≥100000:1; 所述去偏振动态光散射是将偏振片放置在动态光散射仪器前,并进行调节使得偏振方向与激光入射方向垂直; 所述光强自相关方程与电场自相关方程: g2q,t=1+β|g1q,t|2 式中,β为仪器的相干系数,q为倒空间中的空间尺度,与散射角θ直接相关,n为样品的折光指数,λ为激光波长,t为滞后时间,g1q,t为电场自相关方程,g2q,t为测试得到的光强自相关方程; 从光强自相关方程中提取均方转动角δθ2t;其中q1,q2分别为散射角角度1,散射角角度2对应的倒空间尺度,即前述两个不同的散射角; 得到的均方转动角可以通过以下方程关联至复数模量G*,储能模量G'以及损耗模量G”; 其中: 其中为示踪粒子的长径比,L为示踪粒子的长度,d为示踪粒子的直径,T为温度,kB为波尔茨曼常数,Γ1+αω为伽马函数, 光强自相关方程g2q,t为: Iτ,Iτ+t为τ,τ+t时刻的光强。
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