中国电子科技集团公司第五十八研究所李岱林获国家专利权
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龙图腾网获悉中国电子科技集团公司第五十八研究所申请的专利一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116893332B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310835122.1，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法是由李岱林;陈诚;王建超;黄健;康培培设计研发完成，并于2023-07-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法在说明书摘要公布了：本发明涉及反熔丝FPGA测试技术领域，具体涉及一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法。包括：步骤a：ATE测试系统实时采集并比对反熔丝FPGA的输出结果，如果芯片失效，将失效的向量地址形成测试报告输出a1，修改特定的输入条件A，使得芯片的故障率即失效地址降低，按照递增或递减的方式，在N次后结束测试，同时生成a1、a2到aN的失效地址报告；或者在第m次时，芯片性能正常并结束测试，同时生成a1、a2到am‑1的失效地址报告和第m次的输入条件；上述mN；步骤b：如果步骤a中的芯片性能正常；本发明不需要大量重复测试，就可以反馈芯片故障特征，降低了设计和生产成本，提高了分析效率。
本发明授权一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法在权利要求书中公布了：1.一种基于ATE的反熔丝FPGA异常分析方法，其特征在于，包括如下步骤： 步骤a：ATE测试系统实时采集并比对反熔丝FPGA的输出结果，如果芯片失效，将失效的向量地址形成测试报告输出a1，修改特定的输入条件A，使得芯片的故障率即失效地址降低，按照递增或递减的方式，在N次后结束测试，同时生成a1、a2到aN的失效地址报告；或者在第m次时，芯片性能正常并结束测试，同时生成a1、a2到am-1的失效地址报告和第m次的输入条件；上述mN； 步骤b：如果步骤a中的芯片性能正常，修改特定的输入条件B，使得芯片失效的可能性增加，按照递减或递增的方式，直至芯片失效，生成失效地址报告B’； 步骤c：利用数据处理程序分析步骤a和步骤b中失效地址数据，利用电路仿真平台对比验证测试的模块，排查出电路故障点； 另外，测试者能够通过上述的异常分析方法，对芯片进行可靠性分析，快速生成可靠性分析报告。
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