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龙图腾网获悉深圳云芯智联信息技术有限公司申请的专利一种多封装MOS管测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116520115B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310265525.7，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种多封装MOS管测试装置是由魏宁波;韦显行设计研发完成，并于2023-03-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多封装MOS管测试装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多封装MOS管测试装置；所述多封装MOS管测试装置，包括：上盖和基座；所述上盖设有压力调节组件，所述基座设有检测组件；所述检测组件用于放置MOS管，所述压力调节组件用于提供压力至所述MOS管，所述检测组件包括PCB板及置物板，所述置物板设有用于放置所述MOS管的开口槽，所述MOS管与所述PCB板电连接。本发明通过在检测组件放置MOS管，压力调节组件可调节提供所需的压力至MOS管，进而调整MOS管与PCB板上焊点的接触效果，量化了MOS管的按压力，可适用于多种封装类型的MOS管的性能测试，提升了测试效率，同时还保护了MOS管，使其在测试过程中不易损坏，降低了测试成本。

本发明授权一种多封装MOS管测试装置在权利要求书中公布了：1.一种多封装MOS管测试装置，其特征在于，包括：上盖和基座；所述上盖设有压力调节组件，所述基座设有检测组件；所述检测组件用于放置MOS管，所述压力调节组件用于提供压力至所述MOS管，所述检测组件包括PCB板及置物板，所述置物板设有用于放置所述MOS管的开口槽，所述MOS管与所述PCB板电连接；所述压力调节组件包括调节螺钉、弹性件及压力件；所述上盖设有通腔，所述压力件设于所述通腔，所述压力件的上端与所述调节螺钉连接，下端突出于所述通腔且与所述开口槽的位置相对应，所述弹性件套设于所述调节螺钉且所述弹性件的下端与所述压力件抵触连接；所述PCB板包括第一PCB板和第二PCB板，所述置物板包括第一置物板和第二置物板；所述第一置物板和第二置物板均设有所述开口槽，所述第二PCB板上设有对应于所述开口槽的缺口，所述第二置物板、第二PCB板、第一置物板及第一PCB板由上到下依次层叠放置，所述MOS管与所述第一PCB板或第二PCB板电连接；所述上盖还设有锁组件，所述基座上设有卡扣，所述锁组件与所述卡扣相配合。

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