武汉理工大学张莹获国家专利权
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龙图腾网获悉武汉理工大学申请的专利一种产品成分数据监测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115270861B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210857179.7,技术领域涉及:G06F18/2433;该发明授权一种产品成分数据监测方法、装置、电子设备及存储介质是由张莹;向佳敏;褚娜设计研发完成,并于2022-07-20向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种产品成分数据监测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供一种产品成分数据监测方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:首先,基于预设条件,筛选出控制图样本集中的失控成分数据样本集;然后,根据失控成分数据样本集训练初始基于自适应增强的向量机模型,得到对应的异常偏移模式;最后,根据训练完备的基于自适应增强的向量机模型确定待测产品的异常偏移模式。通过将产品成分数据转换为控制图样本集进行判断,不仅结果简洁明确,并且便于溯源;在获取到失控成分统计量后,基于自适应增强的向量机模型能够确定异常偏移模式,从而实现自动处理异常数据以及确定产品的异常模式。
本发明授权一种产品成分数据监测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种产品成分数据监测方法,其特征在于,包括: 获取产品成分数据对应的控制图样本集,并基于预设条件,筛选出失控成分数据样本集;其中,筛选出失控成分数据样本集,具体包括: 获取产品成分数据,通过随机采样,抽取采集到样本容量为的维成分数据,记作;其中,每个均服从正态分布; 对产品成分数据样本进行等距对数比变换,确定均值坐标向量样本,计算均值坐标向量的公式为: 其中,服从加法逻辑正态分布; 通过多变量累积和算法,对均值坐标向量进行处理,得到统计量样本;根据统计量样本构造控制图样本集; 其中,计算统计量样本的公式如下: 其中,为统计量样本,为过程偏移系数,为样本的均值坐标向量,; 将所述失控成分数据样本集输入至初始基于自适应增强的向量机模型,以所述失控成分数据样本集对应的异常偏移模式为输出,迭代训练,确定训练完备的基于自适应增强的向量机模型,所述初始基于自适应增强的向量机模型包括多个弱分类器,并通过自适应增强算法对所述多个弱分类器进行加权运算,组成一个强分类器;通过支持向量机算法将所述强分类器的数据映射到高维的特征空间中进行分类; 获取实时失控成分数据,将所述实时失控成分数据输入至所述训练完备的基于自适应增强的向量机模型,确定待测产品的异常偏移模式。
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