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龙图腾网获悉中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利液晶光谱仪及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115219030B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210816100.6，技术领域涉及：G01J3/45；该发明授权液晶光谱仪及其测量方法是由吕金光;梁静秋;陶金;赵莹泽;郑凯丰;赵百轩;王惟彪;秦余欣设计研发完成，并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本液晶光谱仪及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种液晶光谱仪及其测量方法，其中的光谱仪包括：光源系统、分束器、液晶补偿装置、液晶相位反射镜和探测器系统；光源系统用于发出一束线偏振光束入射至分束器，被分束器分为透射光束和反射光束，反射光束入射至液晶补偿装置被反射后返回至分束器；透射光束入射至液晶相位反射镜被反射后具有预设光程差，返回至分束器中与反射光束发生干涉形成干涉光束入射至探测器系统，得到干涉光信号，获取线偏振光束的光谱信息。本发明避免了传统傅里叶变换光谱仪的动镜扫描机构，提高了系统的稳定性和可靠性，并减小了系统的体积和重量。该发明提出的液晶光谱仪结构，具有小型化、静态化、高稳定性和高环境适应性的特点。

本发明授权液晶光谱仪及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种液晶光谱仪，其特征在于，包括：光源系统、分束器、液晶补偿装置、液晶相位反射镜和探测器系统； 所述光源系统用于发出一束线偏振光束入射至所述分束器，被所述分束器分为透射光束和反射光束，所述反射光束入射至所述液晶补偿装置被反射后返回至所述分束器；所述透射光束入射至所述液晶相位反射镜被反射后具有预设光程差，返回至所述分束器中与所述反射光束发生干涉形成干涉光束入射至所述探测器系统，得到干涉光信号，获取所述线偏振光束的光谱信息； 通过电压驱动源为所述液晶相位反射镜的液晶层提供电压差，用于驱动所述液晶层中的液晶分子的长轴指向方向发生变化； 在加载不同驱动电压V时，所述液晶层内的液晶分子具有不同的长轴指向倾角θV； 不同的液晶分子长轴指向倾角对应不同的折射率；非寻常光的折射率与液晶指向倾角的关系为； 其中，no、ne分别为无电压时所述液晶层中寻常光和非寻常光的折射率； 所述驱动电压V引起的液晶中非寻常光等效折射率为，从而非寻常光在液晶中传输时走过的光程为； 其中，L为液晶层的厚度； 所述透射光束经所述液晶相位反射镜的反射后，相位延迟量为； 所述驱动电压源采用步进阶跃式扫描，即所述液晶层的折射率以相同的步长进行线性变化，折射率为：； 其中，k=1,2,…,N，N为采样点数； 此时光程差采样序列为： ； 所述折射率的变化步长满足以下关系： 其中，λmin为所述线偏振光束中的最小波长。

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