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中国人民解放军国防科技大学彭新获国家专利权

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龙图腾网获悉中国人民解放军国防科技大学申请的专利基于光频率反射技术的局部谱匹配方法、装置和存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114861777B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-09-23发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210427443.3,技术领域涉及:G06F18/22;该发明授权基于光频率反射技术的局部谱匹配方法、装置和存储介质是由彭新;张阳;闫野;王佳奇;王一帆设计研发完成,并于2022-04-22向国家知识产权局提交的专利申请。

基于光频率反射技术的局部谱匹配方法、装置和存储介质在说明书摘要公布了:本发明提供一种基于光频率反射技术的局部谱匹配方法、装置和存储介质,方法包括:输入参考光谱与测试光谱的S路和P路光谱,进行快速傅里叶变换;利用滑动窗截取变换的数据,对截取的数据进行补零和逆快速傅里叶变换;选取滑动窗内预定长度的参考光谱作为局部参考光谱;以N为步频逐次选取预定长度的局部测试光谱,计算局部测试光谱与局部参考光谱的距离;选取距离最小的M组距离数据对应的局部测量光谱,确定对应的M个起始数据点;选取M个起始数据点的邻域范围内的各起始数据点对应的局部测量光谱,通过距离计算获得最匹配的局部测量光谱的起始点;基于最匹配的局部测量光谱的起始点确定测试光谱的频谱漂移点数,并计算相应物理量的变化。

本发明授权基于光频率反射技术的局部谱匹配方法、装置和存储介质在权利要求书中公布了:1.一种基于光频率反射技术的局部谱匹配方法,其特征在于,该方法包括以下步骤: 输入参考光谱与测试光谱的S路和P路光谱,并进行快速傅里叶变换,得到两路光谱的频谱; 利用滑动窗分别截取两路频谱数据,对滑动窗中的频谱数据进行补零和逆快速傅里叶变换,得到变换后的参考光谱和测试光谱; 将变换后的参考光谱和测试光谱进行归一化处理,并选取滑动窗内预定长度的参考光谱作为局部参考光谱; 以N为步频逐次选取滑动窗内所述预定长度的变换后的测试光谱作为局部测试光谱,分别计算局部测试光谱与局部参考光谱的距离,获得多组距离数据,其中N为大于1的整数; 基于获得的多组距离数据选取距离最小的M组距离数据对应的M段局部测量光谱,确定所述M段局部测量光谱对应的M个起始数据点,M为大于1的整数; 选取M个起始数据点的预定邻域范围内的起始数据点对应的局部测量光谱,逐一计算所述预定邻域范围内的起始数据点对应的局部测试光谱与局部参考光谱之间的距离,基于计算的距离获得最匹配的局部测量光谱的起始点; 基于获得的最匹配的局部测量光谱的起始点和所述局部参考光谱的起始点确定测试光谱的频谱漂移点数,并基于确定的频谱漂移点数计算相应物理量的变化。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人中国人民解放军国防科技大学,其通讯地址为:410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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